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X射線熒光分析儀XGT-5200

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產(chǎn)品簡介

X射線熒光分析儀XGT-5200

詳細(xì)介紹

Horiba X射線熒光分析儀是專門針對WEEE(電氣電子產(chǎn)品廢棄物處理法令）和RoHS法令（限制電器電子產(chǎn)品使用有害物質(zhì)法令），快速地測定電子部件中的有害元素的含量。它能對電子電器產(chǎn)品中所含有的有害物質(zhì)如鉛、汞、鉻、鎘、溴等元素進(jìn)行快速而準(zhǔn)確的分析。另外，通過CCD攝像頭可以非常清晰的觀察樣品表面，選取所需要的測試點(diǎn)，操作非常簡單。

X射線熒光是一種可對加工材料和部件進(jìn)行快速、無損掃描的檢測技術(shù)。分析時(shí)間只需要幾分鐘，靈敏度可以控制在低于100 ppm (0.01%)。XGT系統(tǒng)的檢測限度可以低至2 ppm (0.0002%). 標(biāo)準(zhǔn)的1.2 mm 分析光速可以保證即使是非常小的電子元件和部件也可以獨(dú)立進(jìn)行分析。

XGT-5200WR為WEEE/RoHS, ELV和中國RoHS特別設(shè)計(jì)，用于5元素(Pb/Cd/Cr/Hg/Br)高靈敏度測量并帶有X射線顯微鏡功能。

◆ 400μm的X射線光斑，為有害元素的控制提供了高分辨率的掃描分析，適合小到IC集成塊單一引腳的分析。同時(shí)提供小光斑—10μm （可選配件）。

◆ SDD檢測器極大地提高了分辨率和計(jì)數(shù)率，且無需使用液氮（LN₂）。

◆ 無需任何樣品制備或真空--樣品僅需要放置在樣品室中，即可在正常大氣壓力下分析。

◆ 整合的軟件可控制樣品的移動(dòng)，獲取數(shù)據(jù)分析（包括定性和定量分析，并生成成分組成圖像）。

◆ 樣品觀察采用同軸幾何呈象，可消除視差。