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路易企業有限公司
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X射線熒光分析儀MESA-50
Horiba X射線熒光分析儀是專門針對WEEE(電氣電子產品廢棄物處理法令）和RoHS法令（限制電器電子產品使用有害物質法令），快速地測定電子部件中的有害元素的含量。它能對電子電器產品中所含有的有害物質如鉛、汞、鉻、鎘、溴等元素進行快速而準確的分析。另外，通過CCD攝像頭可以非常清晰的觀察樣品表面，選取所需要的測試點，操作非常簡單。
X射線熒光是一種可對加工材料和部件進行快速、無損掃描的檢測技術。分析時間只需要幾分鐘，靈敏度可以控制在低于100 ppm (0.01%)。XGT系統的檢測限度可以低至2 ppm (0.0002%). 標準的1.2 mm 分析光速可以保證即使是非常小的電子元件和部件也可以獨立進行分析。
基于大量客戶的要求，HORIBA憑借長期的經驗開發出全新的EDXRF分析裝置MESA-50 。它將為您提供友好的操作界面和優異的使用性能。
MESA-50具有三種尺寸的準直器可用于各種大小的樣品，從細長的電線、微小的電子器件到大型的樣品。
結合SDD檢測器和HORIBA的DPP處理器，MESA-50將為您帶來EDXRF的全新體驗。MESA-50是HORIBA全新的生態采購支持儀器，不僅適合于歐洲的RoHS，ELV，也適用于其他地區的各種法規。
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