數字式四探針測試儀/四探針電阻率檢測儀/方阻儀

【資料簡介】

數字式四探針測試儀/四探針電阻率檢測儀/方阻儀型號：TRST-2253 

 

TRST-2253 型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量半導體材料的電阻率，測量擴散層的薄層電阻（亦稱方阻）。換上特制的四探針測試夾具，還可以對金屬導體的低、中值電阻進行測量。
　　儀器由主機、測試探頭（可選配測試臺）等部分組成，測試結果由主機數碼管直接顯示。也可連接PC機由配套軟件在PC機上操作，其數據可由軟件顯示、分析、保存和打印！
　　主機主要由精密恒流源，高分辨率 ADC、嵌入式單片機系統組成，自動轉換量程。測試探頭采用寶石導向軸套和高耐磨碳化鎢探針制成，故定位準確、游移率小、壽命長。儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩定性好、智能化程度高、測量簡便、結構緊湊、使用方便等特點。
　　儀器于半導體材料廠、半導體器件廠、科研單位、高等院校對半導體材料的電阻性能的測試。特別于要求快速測量中低電阻率的場合。
三、基本技術參數
3.1測量范圍
電　阻率：    10-4～105Ω-cm
方塊電阻：  10-3～106Ω/□
電　　阻：10-4～105Ω
3.2可測半導體材料尺寸
直  徑：  Φ15～100mm, 長（或高）度：  ≤400mm
2.3測量方位: 
軸向、徑向均可
2.4.   4 1/2 位數字電壓表：
⑴量程： 200mV
⑵誤差：±0.1%讀數±2 字
2.5數控恒流源
⑴電流輸出：直流電流 0～100mA 連續可調，由交流電源供電。
⑵量程：1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA
⑶誤差：±0.5%讀數±2 字
2.6四探針測試探頭
   ⑴探針間距 1mm
(2)探針壓力: 0～2kg 可調,zui大壓力約 2kg
(3)探針：碳化鎢，Φ0.5mm
2.7.電源
輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗：<20W
2.8.外形尺寸：
主機  260mm（長）×210 mm（寬）×125mm（高）

 

 

 

半導體電阻率測試儀/四探針電阻率測試儀/四探針電阻率分析儀 型號：  TDW-6
 

TDW-6型半導體電阻率測試儀是于各種半導體材料包括:片狀硅料、晶體、晶體等的電阻率測定的設備,測定范圍:0.01-199.99歐姆厘米，是生產廠家硅料分選測試的理想工具。
1、 主要技術指標:
電源：220V交流
可測晶片直徑（zui大）Ф100mm,方形230×220mm
恒流源：電流量程為0.01～1mA連續可調，誤差≦±0.5%。
數字電壓表：量程：0.1～200mV,zui大分辨率：100μV
電阻率顯示：三位半數字顯示：小數點、性、過載、自動顯示0.01-199.99歐姆。厘米
輸入抗阻：0.2mV和2mV量程：＞108Ω
zui大電阻測量誤差（按JJG508-87進行）：0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω≤±5%讀數±2個字。
測量環境：溫度23±2℃，相對濕度≤65%
2、操作程序：
  1、先連好電源，打開后面板電源開關，電源指示燈亮，表示待機完畢。
  2、校準設備：根據國標電流修正系數表通過厚度調節電流來校準儀器，或通過：厚度小于3.98mm取與要備測試硅材料厚度相同的硅材料標準樣塊校準電阻率測試儀，測試厚度大于3.98mm的硅材料可取厚度大于3.98mm的任一標準樣塊校準電阻率測試儀
  3、測試：用四探針接觸硅材料，以探針壓下三分之二為準，待儀器顯示數字穩定即可，
  4校驗：在測試過程中要求2小時用標準樣塊校準一次設備，
3、 針組件;維護及注意事項:
  1、一般情況下,除了信號傳輸線的斷裂引起的故障外, 針的維護主要包括針頭的更換和針頭  的  清理清潔工作
  2、維護后的安裝及維護過程中,必須注意安裝過程中的排線位置,按綠紅黃黑（1234）位置排列。 

 

 

公司名稱：北京同德創業科技有限公司
聯 系 人：蘇
：/
:     2495283342
地    址：北京市通州區新華北街117號
網    站：www.5117sel.com