日本snk表面附著異物可視化技術

【資料簡介】

日本snk表面附著異物可視化技術

可視化技術，用于觀察粘附在表面的細小顆粒，異物或污垢

細顆粒可視化技術可用于以高靈敏度檢測光滑表面上的顆粒。另外，通過可視化由顆粒成分引起的熒光，可以每天處理表面異物和污垢。

如何使用散射光

高靈敏度細顆粒可視化技術是一種捕獲移動的細顆粒的散射光的技術。使用相同的原理，可以以高靈敏度檢測產品移動時表面上的異物和微弱的散射光。當使用激光時，它只能應用于光滑的產品，但是例如對于膠片，也可以通過可視化檢測張緊的位置。

使用散射光感測表面異物

如何一起使用熒光

附著在表面的異物和污垢可能會使從該組件發出的熒光返回。為了澄清熒光色，有必要設計要照射的光，但是如果使用特殊的濾光片將散射光截斷，則表面上的異物將非常鮮艷并且易于觀察。無論表面光滑度如何，此方法都可以可視化是否有光到達。可以免費租用“ D Light”（約2天）。請借此機會嘗試一下。

使用熒光識別異物和污垢

利用表面粒子可視化技術的z佳解決方案

• “ D Light”，一種工具，可以更容易地從表面的異物和污垢中看到熒光色
• “ D Scope”是一種工具，可以捕獲細顆粒的各種信息，并通過捕獲弱熒光將其轉換為數據。
• “ Parallel Eye F”是一種相對容易設置在要可視化的表面上的光源。
• 可視化寬而光滑產品表面的z佳光源是“ Parallel Eye H”。
• “ Parallel Eye D”是可視化不平坦表面并使熒光更加突出的z佳光源。
• 具有于微粒檢測的靈敏度和功能的超高靈敏度相機是的超高靈敏度相機“ Eyescope”。
• 圖像處理軟件包“ Particle Eye”，用于在計算機上實時圖像處理和視頻記錄
• 當您要使用細顆粒可視化系統處理制造環境中的緊急問題時，可以提供現場評估服務
• 在產品開發和公共關系等地點使用細顆粒可視化系統時的產品開發/公共關系支持服務