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X熒光分析儀
資料類型 | jpg文件 | 資料大小 | 25419 |
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關(guān) 鍵 詞 | X熒光分析儀,X熒光分析儀,X熒光分析儀,X熒光分析儀,X熒光分析儀 |
- 【資料簡介】
X熒光分析儀型號:CIT-3000SMD(A)
應(yīng)用領(lǐng)域該儀器是專門為黑色冶金、礦山樣品分析行業(yè)打造的一款針對性強的分析儀器,對原礦、精礦、尾礦、燒結(jié)礦、球團礦、爐渣、生鐵、石灰石等許多樣品可進行多元素快速檢測。
儀器技術(shù)指標(biāo)(1)測量范圍:1-40kev;
(2)可分析元素范圍:Na-U;
(3)分析含量范圍:1ppm-99.99%;
(4)分辨率:優(yōu)于127Ev;
(5)低檢出限:Pb≤5ppm;
(6)工作環(huán)境溫度:0-40攝氏度;
(7)工作環(huán)境相對濕度:≤80% (不結(jié)露)
(8)測量時間:10-2550s(時間可調(diào))
(9)輸入電源:AC 220V ±10%,50HZ;
(10)額定功率:300W;
(11)探測器類型:更的 Superfast SDD 探測器;
(12)500萬像素的CDD頭,可有效的實現(xiàn)觀察測試區(qū)域狀況,并拍下物料照片,可作為檢測報告的組成部分;
(13)儀器尺寸:600(W) *570(D) *570(H)mm
(14)樣品腔尺寸:樣品腔:300*300*100 mm
(15)重量:約100Kg
2024世環(huán)會【工業(yè)節(jié)能與環(huán)保展】

div6月3日,2024世環(huán)會【工業(yè)節(jié)能與環(huán)保展】于上海丨國家會展中[詳細(xì)]
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