本底是指再被測放射性樣品中，除本實驗感興趣的核素以外的其他因素（包括樣品的干擾核素）在輻射探測器中產(chǎn)生的信號。低本底測量是指在低本底條件下對樣品進行測量，相應(yīng)使用的儀器稱為低本底探測器。
低本底探測器往往選用放射性雜質(zhì)少的材料或經(jīng)過純化的材料制作探測器及整個裝置。除α探測器外，低本底探測器周圍要適當增加物質(zhì)屏蔽，以防止宇宙射線和周圍環(huán)境中的射線引起的本底。常用的屏蔽材料為鉛和鋼。對探測器和測量系統(tǒng)的工作條件也要做適當?shù)倪x擇，以減少噪聲和外界電磁場的干擾等因素引進的本底計數(shù)。
同樣的 ，低本底αβ檢測儀的在選擇的時候，有集氣法和非集氣法兩種可供選擇。集氣法相比非集氣法來說精度和干擾度都優(yōu)一點，使用者可以根據(jù)自己的實際情況來判定哪種參數(shù)可以更符合自己的要求。在選擇的時候，通道之間是獨立的，根據(jù)需要測量的樣品數(shù)量來進行合理選擇即可。
主要技術(shù)參數(shù)：
產(chǎn)品執(zhí)行標準GB/T11682-2008、檢定規(guī)程JJG853-1993
產(chǎn)品應(yīng)用標準GB 5749-2006、 GB/T5750.13-2006、GB 8537-2008、GB19298-2003等
單位面積平均本底計數(shù)率/（計數(shù)·cm-2·min-1）
α ≤0.003 β ≤0.1
效率比
α ≥85% β ≥58%
效率穩(wěn)定性
α ＜3% β ＜8%
串道比
α射線對β道 ≤2.5%
β射線對α道 ≤0.3%
儀器靈敏度
α 5×10-4Bq
β 1×10-3 Bq
本底穩(wěn)定性：在24h,本底計數(shù)率變化應(yīng)在 （平均計數(shù)率±3σ）的范圍內(nèi)，其中σ為本底計數(shù)的標準誤差。
注：本參數(shù)測量所用α參考源為239Pu，參考源活性區(qū)為Φ25mm，表面粒子發(fā)射率約為102粒子數(shù)/（min·2π）；β參考源為90Sr-90Y，參考源活性區(qū)為Φ20mm，表面粒子發(fā)射率約為102粒子數(shù)/（min·2π）。
高壓調(diào)節(jié)范圍0～1000V，穩(wěn)定度優(yōu)于0.5%；
絕緣電阻≥2MΩ；耐壓絕緣度＞1500V；
環(huán)境溫度5-40℃；相對濕度＜90%；
電源：交流220V±10%，50Hz，功耗≤20W；
