四探針導體/半導體電阻率測量儀/四探針電阻率檢測儀 型號：TD-SB100A/2

由于金屬塊體材料的電阻和金屬薄膜的電阻很低，他們的測量采用四端接線法。為了滿足實際的需要，本儀器采用四探針法原理來實現對不同金屬、半導體、導電高分子材料的電阻及電阻率的測量。可用于高校物理教育實驗，對導體/半導體/金屬薄膜材料的電阻 及電阻率的測試及研究。本產品的電阻測量范圍可達10-6—106Ω。

（使用環境5—40℃，相對濕度<80%，供電220V  50Hz，為實驗室環境使用）

TD-SB100A/2由SB118直流電壓電流源、PZ158A直流數字電壓表、SB120/2四探針樣品測試平臺三部分組成。
lSB118直流電壓電流源：是一臺4½位的電壓源及電流源，既可輸出5µV—50V，5檔可調電壓，基本誤差為±（0.1%RD+0.02%FS）又可輸出1nA—100mA，5檔可調電流，基本誤差為
±（0.03%RD+0.02%FS）詳見本公司產品SB118。
l            PZ158A直流數字電壓表：具有6½位字長，0.1μV電壓分辨力的帶單片危機處理技術的高精度電子測量儀器，可測量0-1000V直流電壓。基本量程的基本誤差為±（0.002%RD+0.0005%FS），詳見本公司產品PZ158A。
l            SB120/2四探針樣品測試平臺：該測試平臺是SB120/1測試平臺的改進型。其有底座、支架、旋動部件、樣品平臺、四探針及接線板等組成。由于其整個結構及旋動方式都在原SB120/1的基礎上作了很大的改進，故在高校的物理實驗及科學研究總為導體/半導體/金屬薄膜材料的電阻和電阻率的測試、研究提供了較大的方便。

電阻率測試儀/四探針半導體材料電阻率檢測儀/四探針電阻率儀 型號：TDW-02

本儀器按照半導體材料電阻率的及標準測試方法有關規定設計，它主要由電器測量部份（主機）及四探針探頭組成。樣品測試電流由高精寬的恒流源提供，隨時可進行校準，以確保電阻率測量的準確度   
主要技術指標: 。
對0.1～199.9Ω*cm標準樣片的測量誤差不過±5%。
（1）測量范圍：可測量電阻率：0.1～199.9Ω*cm。
zui大電阻測量誤差（按JJG508-87進行）：
0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω≤±5%
適合測量各種厚度的硅片，可測晶片直徑（zui大）
園形Ф100mm           方形230×220mm
 （2）恒流源：
 輸出電流：0.01～1mA連續可調，誤差≦±0.5%。恒流精度：各檔均優于±0.1%
（3）直流數字電壓表
 測量范圍：0.1～199.9mv    靈敏度：100μv   準確度：0.2%（±2個字）  
 當沒有測量時，表上數字不歸零屬于正常，是其自身處于自動掃描狀態
（4）供電電源：AC：  220V ±10%（保護隔離）     50/60HZ   功率2W
（5）四探針探頭； a.鎢鋼探針或高速鋼探針    b.間距1±0.01mm    
c.針尖緣電阻≥100mΩ  d.機械游移率≦1.0%  e.探針壓力 12-16牛頓（總力）
（6） 使用環境：
 溫度23±2℃，相對濕度≤80%  無較強的電場干擾    無強光直接照射
(7) 使用方法；
a. 使用儀器前將電源線、測試筆聯接線與主機聯接好，電源線插頭插入～220V座插后，開啟背板上的電源開關，此時前面板上的數字表、發光二管都會亮起來。探針頭壓在被測單晶上，右邊的表顯示從1、4探針流入單晶的測量電流，左邊的表顯示電阻率或2、3探針間的電位差。電流大小通過旋轉前面板右上方的電位器旋鈕加以調節b.  校準設備：厚度小于3.98mm的（本公司提供厚度小于3.98mm的標準電流修正系數表）取與要備測試硅材料厚度相同的硅材料標準樣塊校準電阻率測試儀，測試厚度大于3.98mm的硅材料可取厚度大于3.98mm的任一標準樣塊校準電阻率測試儀。 
c.測試: 用四探針接觸硅材料，以探針壓下三分之二為準，待儀器顯示數字穩定即可.
 d． 校驗：在測試過程中要求每隔2小時用標準樣塊校準一次設備
一般情況下,除了信號傳輸線的斷裂引起的故障外, 針的維護主要包括針頭的更換和針頭  的  清理清潔工作
 維護后的安裝及維護過程中,必須注意安裝過程中的排線位置,按綠紅黃黑（1234）位置排列。

公司名稱：北京同德創業科技有限公司
聯 系 人：蘇
：/
:     2495283342
地    址：北京市通州區新華北街117號
網    站：www.5117sel.com