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上海首立實業有限公司
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ColorQuest XE是一高性能的光譜光度計，在生產中和在實驗室里，用它可以檢測原材料、評定成品或開發顏色分析方法，它可以測量不透明、半透明和透明固體及液體等樣品的性能
主要特點
d / 8°幾何結構可以進行反射和透射測量
長壽命濾色閃光氙燈符合D65，通常無需更換
內壁涂有高效穩定涂料的積分球
鏡面反射自動包括 / 去除功能，測量光澤影響
雙光路設計確保的測量精度
三面開口的大透射室
測試按鈕方便樣品測量
狀態指示燈指示所選模式
設計合理的樣品夾——快速測量多種樣品
技術參數
測量
測量原理：雙光路光譜光度計
幾何條件：d（漫射）/ 8°
分光計：256個二極管矩陣和高分辨率凹面全息光柵
積分球直徑：15.2cm（6″）
積分球涂層：Spectraflect?
觀察孔徑
大面積觀察：25.4mm（1″）照明，19.0mm（3/4″）測量
小面積觀察可選件：9.5mm（3/8″）照明，6.3mm（1/4″）測量
小面積觀察可選件：4mm測量
LAV / SAV可選件透鏡切換：自動
鏡面反射部分：自動包括 / 去除
光譜范圍：400nm~700nm
波長分辨率：< 3nm
波長精度：0.1nm
有效帶寬：10nm等三角形
報告波長間隔：10nm
光度范圍：0~200%
光度分辨率：0.003%（報告的分辨率為0.01%）
光源：脈沖氙燈，濾光至模擬D65
每次測量閃光次數： LAV模式1次（SAV模式2次）
燈壽命：> 1,000,000次閃爍，用戶可更換
測量時間：< 1秒
測量間的時間間隔：不低于3秒
透射模式：定向（直接）和總透射
透射室：三邊開口
自動UV控制可選件：
去除420nm和460nm濾色片，帶自動UV校正
符合標準
反射：CIE 5、ISO7724/1、ASTM E 1164、DIN5033 Teil 7和JIS78722 Condition C
透射：CIE 5、ASTM E 1164和DIN5033 Teil 7
性能
色度重復性（20次讀數）：
白板：≤0.03ΔE* CIEL*a*b*，在LAV和SAV模式
藍色粗紋板：≤0.05ΔE* CIEL*a*b*，在LAV和SAV模式
光譜重復性：在LAV和SAV模式標準偏差在0.1%以內
儀器間一致性：
≤0.15ΔE* CIEL*a*b*（平均）
≤0.25ΔE* CIEL*a*b*（）
標準追蹤：儀器校正標準板追蹤到（NPL）值
物理特性 / 電的特性
尺寸：
高：27.9cm（11.0″）
寬：42.0cm（16.5″）
深：49.8cm（19.6″）
重：20.4kg（45lb）
電源：100~240VAC，47~63Hz，待機狀態60瓦，連續使用120瓦
接口：RS-232C，9600波特，D9（孔）端線
操作環境：10~40℃（50~104°F），10~90%相對濕度，無冷凝
儲存環境：-21~66℃（-5~150°F），10~90%相對濕度，無冷凝
標準附件：白校正板，黑校正光阱，綠檢測板，釹鐠檢測濾色片，透射零校正板，反射樣品夾，LAV孔板，RS-232C信息線，電源線，NPL追蹤證書
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