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北京君合泰測控技術(shù)有限公司
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更新時間：2024-11-03 10:37:25瀏覽次數(shù)：136次
聯(lián)系我時，請告知來自 環(huán)保在線DSO5000Lab集成電路與半導體測試教學實訓平臺
DSO5000Lab集成電路與半導體測試教學實訓平臺
技術(shù)參數(shù)
序號 | 名稱 | 技術(shù)要求及說明 | 價格 |
1 | 總體 要求 | 本平臺適用于電子線路。測試技術(shù)導論、虛擬儀器技術(shù)、電子線路課程、自動化測試導論、集成電路設計基礎、集成電路測試基礎、集成電路測試導論、電路系統(tǒng)設計與開發(fā)實踐、半導體測試基礎教學、微電子實訓及競賽等應用場合。 本平臺虛擬儀器功能包括：數(shù)字存儲示波器、函數(shù)與任意波形發(fā)生器、邏輯分析儀、數(shù)字萬用表、程控電源、多功能數(shù)據(jù)記錄儀、場強儀、晶體管圖示儀、頻率特性分析儀和頻譜分析儀功能。 本平臺能完成集成電路設計、集成電路功能測試以及具有工業(yè)實際應用的序列測試。 本平臺具有半導體晶片和芯片的電參數(shù)測試功能，能完成電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)的檢測。特別適合微電子封裝技術(shù)的教學和實訓。 本平臺可以完成基于功能性電路的仿真、設計與測試 項目設計、基于分立元器件的序列測試項目設計、基于PCI的自動化測試項目設計。 本平臺可使學生掌握虛擬儀器系統(tǒng)的基本構(gòu)成及基本設計思想，學習應用圖形化語言進行編程和設計，掌握LabVIEW軟件的應用。以基于LabVIEW的虛擬儀器開發(fā)平臺為基礎，學習掌握LabVIEW編程環(huán)境、編程方法、數(shù)據(jù)采集、信號分析與處理等方面的內(nèi)容。同時在掌握基本理論知識和編程方法的基礎上，能夠從測量問題的本身出發(fā)，通過題目分析、電路組成等設計合理的測量方案，本平臺和相應的硬件設施，解決實際的測量問題。培養(yǎng)學生自己動手組建自動測試系統(tǒng)的能力。 | 基本配置 價格電詢
|
2 |
主 實驗 箱 | 1.交流電源輸入：220V±10%50Hz； 2.工作環(huán)境溫度：-10℃～+40℃； 3.直流電源輸出：+3.3V、+5V、-5V、+12V、-12V； 4.實驗面包板尺寸：170*46mm； 5.DUT接口基座：2個； 6.BNC座：4個； 7.香蕉座：4個； 8.USB座：N+2； 9.實驗箱尺寸：520x330x140mm； 10.終端測試平臺：i5處理器，32G內(nèi)存，512固態(tài)快速存儲硬盤，23英寸顯示器。 | |
3 |
虛擬 儀器 數(shù)字 存儲 示波 器 | 1.模擬帶寬：100MHz； 2.通道數(shù)：4通道； 3.實時采樣率：1GSa/s； 4.存儲深度：64K； 5.時基精度：±50ppm； 6.時基范圍：2ns/div-1000s/div； 7.輸入阻抗：1MΩ，25pF ； 8.輸入耦合：AC/DC/GND； 9.輸入靈敏度范圍；2mV/div～10V/div； 10.垂直分辨率：8Bit； 11.垂直位移范圍；2mV～10V/div@x1probe； 20mV～100V/div@x10probe； 12.直流增益精度：±3%； 13.輸入電壓：400V (DC+AC Peak)； 14.觸發(fā)類型：單次、自動、正常； 15.觸發(fā)模式：邊沿、交替、脈寬、視頻； 16.波形計算：+、-、x、÷、FFT、反向； 17.觸發(fā)源：CH1、CH2、CH3、CH4； 18.光標測量：Horizontal,Vertical,Cross； 19.FFT：Rectangular,Hanning,Hamming,Blackman Window； 20.自動測量：Vpp,Vamp,Vmax,Vmin,Vtop,Vmid,Vbase, Vavg,Vrms,Vcrms,Preshoot,Overshoot,Frequency, Period,Rise Time,Fall Time,Positive Width,Negative Width,Duty Cycle； | |
4 | 虛擬 儀器 函數(shù) 與 任意 波形 發(fā)生 器 | 1.通道數(shù)：1通道； 2.信號輸出頻率范圍：DC～25MHz； 3.分辨率：0.1%Freq； 4.波形幅度：±3.5Vmax； 5.輸出阻抗：50 Ω； 6.輸出電流：50mA Ipeak=50mA； 7.DAC時鐘：2K～200MHz 可調(diào)； 8.波形長度：2K； 9.垂直分辨率：12位； 10.波形穩(wěn)定度：<>； | |
5 | 虛擬 儀器 邏輯 分析 儀 | 1.輸入信號通道數(shù)：16路； 2.采樣頻率：400MSa/s（4路），200MSa/s（8路），100MSa/s（16路） 3.連續(xù)可調(diào)的閾值電壓范圍 0.5V~+4.5V； 4.輸入電壓范圍：-30V~+30V； 5.輸入阻抗：250KΩ; 6.測量信號帶寬：50MHz； 7.存儲深度：16M； 8.狀態(tài)采樣時鐘：50MHz； | |
6 | 虛擬 儀器 數(shù)字 萬用 表 | 1.直流電壓測量可選檔位：60mV、600mV、6V、60V、800V； 2.交流電壓測量可選檔位：60mV、600mV、6V、60V、800V； 3.直流電流測量可選檔位：60mA、600mA、6V、10A； 4.直流電流測量可選檔位：60mA、600mA、6V、10A； 5.電阻測量可選檔位：600Ω、6K、60K、600K、6M、60M； 6.電容測量可選檔位：40nF、400nF、4uF、40uF、400uF； 7.二極管測試：支持； 8.通斷蜂鳴：支持； 9.自動量程：支持； 10.各路均帶電路保護； | |
7 | 虛擬 儀器 程控 可調(diào) 電源 | 1.電壓輸出通道：1路； 2.電壓輸出范圍： 0～+32V； 3.電流輸出范圍：0～1A Max； 4.電源調(diào)節(jié)方式：軟件動態(tài)程控輸出； | |
8 | 多 功能數(shù)據(jù) 記錄儀 | 1.模擬輸入通道：16路； 2.輸入通道分辨率：12位分辨率； 3.總采樣率：200kS/s； 4.FIFO: 4K； 5.模擬輸出通道: 4路； 6.輸出通道分辨率: 12位； 7.輸出通道更新率: 100 kS/s； 8.數(shù)字輸入通道:16路； 9.數(shù)字輸出通道:16路； 10.計數(shù)器：3個； 11.計數(shù)器精度：32位； | |
9 | 半 導體 晶片 與 芯片 探針 測試臺 | 1.移動方向：XYZ； 2.驅(qū)動方式：微分頭； 3.行程：±6.5mm Z軸:10mm； 4.刻度分辨率：0.01mm； 5.主要材質(zhì)：鋁合金； 6.隔振平板固有頻率：8-10Hz； 7.探針調(diào)節(jié)臺XYZ行程：13/13/13mm； 8.CCD成像顯微鏡：1200萬像素； 9.LED顯示屏：7寸； | |
10 | 標準 DUT 模塊 | 1. ADC/DAC測試 2.運算放大器測試 3.晶體管測試 4.無源器件測試 5.半導體芯片封裝測試 6.半導體晶元及成品測試 | |
11 | 模擬 數(shù)字 綜合 電路 實驗 模塊
| ·基本放大器電路模塊 單級放大器、二級放大器、負反饋放大器、射極跟隨器、差動放大器、場效應管放大器； | 選擇配置 價格電詢 |
·集成運算放大器電路模塊 模擬運算電路、有源濾波器、電壓比較器； | |||
·振蕩器電路模塊 文氏電橋振蕩器、LC振蕩器、方波三角波發(fā)生器； | |||
·功率放大器電路與穩(wěn)壓電源電路模塊 集成功率放大器、OTL功率放大器、串聯(lián)型晶體管穩(wěn)壓電源、集成穩(wěn)壓器； | |||
·基本邏輯電路模塊 邏輯門電路、組合邏輯電路、數(shù)據(jù)選擇器、譯碼器、字段譯碼器； | |||
·綜合數(shù)字電路模塊 計數(shù)器、移位寄存器、555定時器； | |||
·觸發(fā)器電路模塊 基本RS觸發(fā)器電路、JK觸發(fā)器電路、D觸發(fā)器電路； | |||
12 | 信號 與 系統(tǒng) 實驗 模塊 | ·無源濾波器電路模塊 低通濾波器、高通濾波器、帶通濾波器、帯阻濾波器電路； | |
·有源濾波器電路模塊 低通濾波器、高通濾波器、帶通濾波器、帯阻濾波器電路； | |||
·四階巴特沃斯濾波器電路模塊 測量觀察和分析濾波器特性； | |||
·四階古比雪夫濾波器電路模塊 測量觀察和分析濾波器特性； | |||
·信號分解電路模塊 分解為一、二、三、四、五次諧波； | |||
·信號合成電路模塊 多次諧波合成方波； | |||
·RC移相電路與補償分壓電路模塊 測量觀察和分析電路特性； | |||
·零輸入響應與零狀態(tài)響應模塊 測量觀察和分析電路特性； | |||
·二階網(wǎng)絡狀態(tài)軌跡的分析模塊 測量觀察和分析電路特性； | |||
·一階、二階連續(xù)時間系統(tǒng)模塊 測量觀察和分析電路特性； | |||
·階躍響應與沖激響應模塊 測量觀察和分析電路特性； | |||
13 | 選配微 電子 實驗 測試模塊 | ·半導體電阻率及薄層電阻測試 | |
·半導體霍爾系數(shù)和電導率測試 | |||
·硅光電池特性測試 | |||
·數(shù)字MOSIC功能和動態(tài)參數(shù)測試 | |||
·雙極型晶體管直流參數(shù)測試 | |||
·PN結(jié)正向壓降溫度特性測試 |
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