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當前位置:北京中慧天誠科技有限公司>>石油化工設備>> GDSKDT-6紅寶石兩探針頭(兩探針電阻率測試儀配件)間距1.59mm探針合力4~10N

紅寶石兩探針頭(兩探針電阻率測試儀配件)間距1.59mm探針合力4~10N

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具體成交價以合同協議為準

產品型號GDSKDT-6

品       牌

廠商性質其他

所  在  地北京市

更新時間:2022-07-12 14:53:44瀏覽次數:1079次

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使用幾何尺寸精確的紅寶石軸套,確保探針間距的恒定、準確。
2、 控制寶石內孔與探針之間的縫隙不大于6μm,保證探針的小游移率。
3、 采用的S型懸臂式彈簧,使每根探針都具有立、準確的壓力。
4、 量具精度的硬質合金探針,在寶石導孔內穩定運動,持久耐磨。
二、用途

紅寶石兩探針頭(兩探針電阻率測試儀配件)間距1.59mm探針合力4~10N
型號:GDSKDT-9
貨號:ZH463
產品簡介
一、特點
1、 使用幾何尺寸精確的紅寶石軸套,確保探針間距的恒定、準確。
2、 控制寶石內孔與探針之間的縫隙不大于6μm,保證探針的小游移率。
3、 采用的S型懸臂式彈簧,使每根探針都具有立、準確的壓力。
4、 量具精度的硬質合金探針,在寶石導孔內穩定運動,持久耐磨。
二、用途
1、 測量硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率,測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻。
2、 測量導電玻璃(ITO)和其它導電薄膜的方塊電阻。
三、探針間距
1、 直線四探針…………… 1.00mm、1.27mm、1.59mm
2、 方形四探針…………… 1.00mm
3、 直線三探針…………… 1.00mm、1.27mm、1.59mm
4、 兩探針    …………… 1.00mm、1.59mm、4.76mm、10.00mm
四、技術指標
1、 游移率  
                   B級…………… <0.5%
                   *……………<0.3%
                   A*………… <0.2%
                   AA*…………<0.1%
2、 間距偏差 
                   B級…………… <3%
                   *…………… <2%
                   A*…………  <2%
                   AA*………… <1%
3、 zui大針與導孔間隙:0.006mm
4、 探針材料:硬質合金(主成份:進口碳化鎢)或高速鋼
5、 探針壓力      標準壓力:6—10N(4根針總壓力)小壓力:1.2—5N(4根針總壓力)    1牛頓(N)=101.97克
6、 針尖壓痕直徑:25—100μm、100—250μm(簿層)
7、 500V緣電阻:>1000MΩ
 


 

紅寶石兩探針頭(兩探針電阻率測試儀配件)間距1mm探針合力4~6N
型號:GDSKDT-8
貨號:ZH462
產品簡介
一、特點
1、 使用幾何尺寸精確的紅寶石軸套,確保探針間距的恒定、準確。
2、 控制寶石內孔與探針之間的縫隙不大于6μm,保證探針的小游移率。
3、 采用的S型懸臂式彈簧,使每根探針都具有立、準確的壓力。
4、 量具精度的硬質合金探針,在寶石導孔內穩定運動,持久耐磨。
二、用途
1、 測量硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率,測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻。
2、 測量導電玻璃(ITO)和其它導電薄膜的方塊電阻。
三、探針間距
1、 直線四探針…………… 1.00mm、1.27mm、1.59mm
2、 方形四探針…………… 1.00mm
3、 直線三探針…………… 1.00mm、1.27mm、1.59mm
4、 兩探針    …………… 1.00mm、1.59mm、4.76mm、10.00mm
四、技術指標
1、 游移率  
                   B級…………… <0.5%
                   *……………<0.3%
                   A*………… <0.2%
                   AA*…………<0.1%
2、 間距偏差 
                   B級…………… <3%
                   *…………… <2%
                   A*…………  <2%
                   AA*………… <1%
3、 zui大針與導孔間隙:0.006mm
4、 探針材料:硬質合金(主成份:進口碳化鎢)或高速鋼
5、 探針壓力      標準壓力:6—10N(4根針總壓力)小壓力:1.2—5N(4根針總壓力)    1牛頓(N)=101.97克
6、 針尖壓痕直徑:25—100μm、100—250μm(簿層)
7、 500V緣電阻:>1000MΩ
 


 

紅寶石三探針頭 間距0.5mm探針合力5~8N
型號:GDSKDT-11
貨號:ZH465
產品簡介
一、特點
1、 使用幾何尺寸精確的紅寶石軸套,確保探針間距的恒定、準確。
2、 控制寶石內孔與探針之間的縫隙不大于6μm,保證探針的小游移率。
3、 采用的S型懸臂式彈簧,使每根探針都具有立、準確的壓力。
4、 量具精度的硬質合金探針,在寶石導孔內穩定運動,持久耐磨。
二、用途
1、 測量硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率,測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻。
2、 測量導電玻璃(ITO)和其它導電薄膜的方塊電阻。
三、探針間距
1、 直線四探針…………… 1.00mm、1.27mm、1.59mm
2、 方形四探針…………… 1.00mm
3、 直線三探針…………… 1.00mm、1.27mm、1.59mm
4、 兩探針    …………… 1.00mm、1.59mm、4.76mm、10.00mm
四、技術指標
1、 游移率  
                   B級…………… <0.5%
                   *……………<0.3%
                   A*………… <0.2%
                   AA*…………<0.1%
2、 間距偏差 
                   B級…………… <3%
                   *…………… <2%
                   A*…………  <2%
                   AA*………… <1%
3、 zui大針與導孔間隙:0.006mm
4、 探針材料:硬質合金(主成份:進口碳化鎢)或高速鋼
5、 探針壓力      標準壓力:6—10N(4根針總壓力)小壓力:1.2—5N(4根針總壓力)    1牛頓(N)=101.97克
6、 針尖壓痕直徑:25—100μm、100—250μm(簿層)
7、 500V緣電阻:>1000MΩ
 


 

 

紅寶石探針頭(四探針電阻率測試儀配件) AA*(間距:1.59mm)
型號:GDSKDT-6
貨號:ZH459
產品簡介
一、特點
1、 使用幾何尺寸精確的紅寶石軸套,確保探針間距的恒定、準確。
2、 控制寶石內孔與探針之間的縫隙不大于6μm,保證探針的小游移率。
3、 采用的S型懸臂式彈簧,使每根探針都具有立、準確的壓力。
4、 量具精度的硬質合金探針,在寶石導孔內穩定運動,持久耐磨。
二、用途
1、 測量硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率,測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻。
2、 測量導電玻璃(ITO)和其它導電薄膜的方塊電阻。
三、探針間距
1、 直線四探針…………… 1.00mm、1.27mm、1.59mm
2、 方形四探針…………… 1.00mm
3、 直線三探針…………… 1.00mm、1.27mm、1.59mm
4、 兩探針    …………… 1.00mm、1.59mm、4.76mm、10.00mm
四、技術指標
1、 游移率  
                   B級…………… <0.5%
                   *……………<0.3%
                   A*………… <0.2%
                   AA*…………<0.1%
2、 間距偏差 
                   B級…………… <3%
                   *…………… <2%
                   A*…………  <2%
                   AA*………… <1%
3、 zui大針與導孔間隙:0.006mm
4、 探針材料:硬質合金(主成份:進口碳化鎢)或高速鋼
5、 探針壓力      標準壓力:6—10N(4根針總壓力)
                        小壓力:1.2—5N(4根針總壓力)    
                        1牛頓(N)=101.97克
6、 針尖壓痕直徑:25—100μm、100—250μm(簿層)
7、 500V緣電阻:>1000MΩ

 


 

紅寶石探針頭(四探針電阻率測試儀配件) A*(間距:1.59mm)
型號:GDSKDT-6
貨號:ZH458
產品簡介
一、特點
1、 使用幾何尺寸精確的紅寶石軸套,確保探針間距的恒定、準確。
2、 控制寶石內孔與探針之間的縫隙不大于6μm,保證探針的小游移率。
3、 采用的S型懸臂式彈簧,使每根探針都具有立、準確的壓力。
4、 量具精度的硬質合金探針,在寶石導孔內穩定運動,持久耐磨。
二、用途
1、 測量硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率,測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻。
2、 測量導電玻璃(ITO)和其它導電薄膜的方塊電阻。
三、探針間距
1、 直線四探針…………… 1.00mm、1.27mm、1.59mm
2、 方形四探針…………… 1.00mm
3、 直線三探針…………… 1.00mm、1.27mm、1.59mm
4、 兩探針    …………… 1.00mm、1.59mm、4.76mm、10.00mm
四、技術指標
1、 游移率  
                   B級…………… <0.5%
                   *……………<0.3%
                   A*………… <0.2%
                   AA*…………<0.1%
2、 間距偏差 
                   B級…………… <3%
                   *…………… <2%
                   A*…………  <2%
                   AA*………… <1%
3、 zui大針與導孔間隙:0.006mm
4、 探針材料:硬質合金(主成份:進口碳化鎢)或高速鋼
5、 探針壓力      標準壓力:6—10N(4根針總壓力)
                        小壓力:1.2—5N(4根針總壓力)    
                        1牛頓(N)=101.97克
6、 針尖壓痕直徑:25—100μm、100—250μm(簿層)
7、 500V緣電阻:>1000MΩ

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