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上海永傲精密儀器有限公司
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TESCAN GAIA3 FIB-SEM雙束電鏡 是一款可以挑戰納米設計應用的理想平臺，它同時具備高精度及微量分析能力。GAIA3 適用于高質量超薄 TEM 樣品制備、在技術節點減少流程、精確的納米構圖或高分辨率的三維重構。
GAIA3 是一款可以挑戰納米設計應用的理想平臺，它同時具備高精度及微量分析能力。GAIA3 適用于高質量超薄 TEM 樣品制備、在技術節點減少流程、精確的納米構圖或高分辨率的三維重構。
這些特征使得 GAIA3 成為低能電子束成像應用的理想工具，保留易受電子束損壞的樣品的精細結構，如低介電常數材料、光阻材料及未涂覆生物樣品。在樣品改性方面，GAIA3 也代表了挑戰納米加工的適合解決方案。
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