蔡司GeminiSEM 系列產(chǎn)品具有出色的探測效率，能夠輕松地實現(xiàn)亞納米分辨成像。無論是在高真空還是在可變壓力模式下，更高的表面細(xì)節(jié)信息靈敏度讓您在對任意樣品進(jìn)行成像和分析時都具備更佳的靈活性。為該系列的型號有：SEM 500、SEM 450、SEM 300。

詳細(xì)介紹

蔡司Gemini電子光學(xué)鏡筒具有以下三個主要特點(diǎn)

?蔡司Gemini物鏡的設(shè)計結(jié)合了靜電場和磁場，在提高其電子光學(xué)性能的同時將它們對樣品的影響降至更低。無漏磁物鏡設(shè)計，可以對如磁性材料等高挑戰(zhàn)的樣品同樣地進(jìn)行高品質(zhì)成像；

?蔡司Gemini電子束推進(jìn)器技術(shù)，讓電子束經(jīng)過加速后以高電壓通過鏡筒，最終再減速至設(shè)定電壓后進(jìn)入樣品倉，很大程度地減小電子束的像差，確保在非常低的加速電壓下仍可獲得小束斑和高信噪比；

?蔡司Gemini 鏡筒的設(shè)計理念將Inlens二次電子（SE）和背散射電子（BSE）探測器均放置在鏡筒內(nèi)正光軸上，使兩者均具有更高的信號采集效率且可以同時成像，有效的縮短了獲取圖像的時間，更好地提高工作效率。

蔡司Gemini技術(shù)優(yōu)勢能為您提供以下便利：

?經(jīng)校準(zhǔn)后的鏡筒具有長期的穩(wěn)定性，您在日常使用時只需要簡易地設(shè)定基本的參數(shù)，如加速電壓、探針電流等；

?無漏磁的物鏡設(shè)計，可對包括磁性樣品在內(nèi)的各類型樣品進(jìn)行無畸變、高分辨率的成像；

?Inlens二次電子探測器具有高效的SE 1信號采集效率，給您呈現(xiàn)來自樣品極表面的真實形貌圖像；

?鏡筒內(nèi)能量過濾背散射探測器以其創(chuàng)新的設(shè)計理念，使您在低電壓下可獲得高分辨率、高襯度、以及更真實的樣品材料襯度圖像。

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