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XY9200B數(shù)顯金片測(cè)試儀

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XY9200B數(shù)顯金片測(cè)試儀優(yōu)點(diǎn):測(cè)試大量程范圍12.7mm采用數(shù)顯表頭,可以在任意高設(shè)為零點(diǎn),直接讀數(shù)精度高,速度快,美觀大.詳細(xì)說(shuō)明:金（晶）片測(cè)試儀是針對(duì)電話(huà)水晶頭網(wǎng)絡(luò)線(xiàn)水晶頭而設(shè)計(jì),用于測(cè)量電話(huà)水晶頭網(wǎng)絡(luò)線(xiàn)水晶頭金片的深度,適用4P

詳細(xì)介紹

XY9200B數(shù)顯金片測(cè)試儀

優(yōu)點(diǎn):
測(cè)試大量程范圍12.7mm
采用數(shù)顯表頭,可以在任意高設(shè)為零點(diǎn),直接讀數(shù)精度高,速度快,美觀大.

詳細(xì)說(shuō)明:
金（晶）片測(cè)試儀是針對(duì)電話(huà)水晶頭網(wǎng)絡(luò)線(xiàn)水晶頭而設(shè)計(jì),用于測(cè)量電話(huà)水晶頭網(wǎng)絡(luò)線(xiàn)水晶頭金片的深度,適用4P，6P，8P，10P等規(guī)格水晶頭金片深度的測(cè)量.

一、概述：
本試驗(yàn)裝置為桌上型，如結(jié)構(gòu)圖標(biāo)可檢測(cè)PLUG金片深度，適用于各式PLUG金片深度測(cè)試，精度±0.0１mm，操作迅速簡(jiǎn)便。
二、主要技術(shù)指標(biāo) ：
比測(cè)臺(tái)花崗石150*100*60mm長(zhǎng)寬高。00級(jí)。符合JB/T7975標(biāo)準(zhǔn)。數(shù)顯百分表測(cè)量顯示金片深度。全數(shù)顯分辯率0.01mm。測(cè)量范圍12.7mm。最小分度0.01mm 。百分表提升桿往上提時(shí)可將針狀測(cè)頭提起。以便測(cè)試全不銹鋼片狀測(cè)頭SR0.3mm厚度。方便測(cè)試變形磨損 PLUG金片。治具固定PLUG金片用標(biāo)配一個(gè)4P/6P/8P10P。

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關(guān)鍵詞：芯片