上海艾時微技術(shù)開發(fā)有限公司
詳細摘要： FT-NMT04是一個多功能的原位SEM/FIB納米力學(xué)測試系統(tǒng)，能夠準確地量化材料在微米和納米尺度上的力學(xué)行為。
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2023-10-26 在線留言
詳細摘要： P-17支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進行2D和3D測量，單次掃描高達200mm，無需圖像拼接測量。
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2023-05-11 在線留言
詳細摘要： P-7可以對nm-µm級臺階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進行2D和3D測量，其掃描可達150mm而無需圖像拼接
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2023-05-10 在線留言
詳細摘要： Zeta-300是采用ZDot™技術(shù)和Multi-Mode光學(xué)系統(tǒng)的落地式非接觸式表面輪廓測試系統(tǒng)。
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2023-02-18 在線留言
詳細摘要： Zeta-20是采用ZDot™技術(shù)和Multi-Mode光學(xué)系統(tǒng)的非接觸式表面輪廓測試系統(tǒng)。
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2023-02-17 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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