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北京合能陽光新能源技術(shù)有限公司

  • HS-phys-SimPLe半導體晶片內(nèi)部缺陷檢測系統(tǒng)

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  • 款無接觸少子壽命掃描儀:MWR-2S-3I

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  • 紅外探傷儀:NIR-01

    紅外探傷測試儀是專門用于多晶硅片生產(chǎn)中的硅塊硅棒硅片的裂縫、雜質(zhì)、黑點、陰影、微晶等缺陷探傷的儀器
    型號: 所在地: 參考價: 面議 更新時間:2022/3/12 11:42:04 對比
  • 無接觸少子壽命掃描儀:MWR-2S-3

    合能陽光無接觸少子壽命掃描儀(HS-MWR-2S-3)功能強大,能夠?qū)尉Ч璋?、多晶硅塊及硅片提供快速、無接觸、無損傷、高分辨率的多功能掃描測試,其通過微波光電...
    型號: 所在地: 參考價: 面議 更新時間:2022/3/12 11:39:21 對比
  • 型號測試儀:HS-HCTT

    產(chǎn)品介紹:本儀器是嚴格按照ASTMF42(非本征半導體材料導電類型的標準測試方法)中的熱探針設計的便攜式導電型號鑒別儀
    型號: 所在地: 參考價: 面議 更新時間:2022/3/12 11:33:04 對比
  • 大量程電阻率測試儀:HS-POSRT

    產(chǎn)品介紹:合能陽光的原生多晶電阻率測試儀(HS-POSRT),是一款電阻率測試儀器,具有電阻率大量程及超大量程測量的特點,實現(xiàn)了電阻率從0.0001歐姆.厘米到...
    型號: 所在地: 參考價: 面議 更新時間:2022/3/12 11:28:40 對比
  • 無接觸式電阻率型號測試儀:TRM-100

    無接觸式電阻率型號測試儀TRM-100是基于渦流(EddyCurrent)測試技術(shù),能夠?qū)枇稀⒐璋?、硅錠及硅片進行無接觸、無損傷的體電阻率測試
    型號: 所在地: 參考價: 面議 更新時間:2022/3/12 11:05:31 對比

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