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深圳市嘉士達精密儀器有限公司
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非接觸式單點金屬測厚儀EddyCusTFlab2020MT產品簡介EddyCusTFlab2020MT允許對透明和非透明層進行非接觸式金屬厚度測量
非接觸式單點金屬測厚儀EddyCus TF lab 2020MT
產品簡介
EddyCus® TF lab 2020MT 允許對透明和非透明層進行非接觸式金屬厚度測量。 使用非接觸式渦流傳感器進行測量。 它實時確定具有已知或（相當）恒定電導率的材料的金屬厚度。 這種非接觸式測試技術可以在很寬的厚度范圍內進行精確測量，從幾納米厚度開始，一直到厚金屬片材和板材的表征。 該技術還能夠表征被非導電材料覆蓋的金屬層。 SURAGUS 為非常薄的層以及非常厚的金屬和普通合金提供材料特定的設置。 該測量方法非常穩健，具有高重復性和高精度。 此外，它不需要任何光學透明度，也不需要物理接觸。 因此，它用于快速測試或系統質量保證的廣泛應用。
產品優勢
軟件和設備控制
非常人性化的軟件
直觀的觸摸顯示屏導航
實時測量薄層電阻和層厚
軟件輔助手動映射選項
各種數據保存和導出選項
技術參數
| 測量技術 | 非接觸式渦流傳感器 |
| 基質 | 箔、玻璃、晶片等。 |
| 基底面積 | 8英寸/ 204毫米x 204毫米(三面開口) |
| 大值樣品厚度/傳感器間隙 | 3 / 5 / 10 / 25毫米(由厚的樣品確定) |
| 金屬厚度范圍 | 低1–10納米；2–5%的精確度 |
| 金屬厚度校準 | 直接厚度校準/薄層電阻轉換 |
| 設備尺寸(寬高比) | 11.4英寸x 5.5英寸x 17.5英寸/ 290毫米x 140毫米x 445毫米 |
| 重量 | 10公斤 |
| 其他可用功能/其他工具配置 | 薄層電阻測量/電導率/電阻率/電各向異性/滲透率(β) |
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