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詳細(xì)摘要： 圖片簡介橢偏儀——SE200BA-M300橢偏儀是一種利用光的偏振態(tài)變化來進(jìn)行薄膜性質(zhì)表征的儀器，主要用來測量薄膜材料的厚度、NK參數(shù)等性質(zhì)
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2023-01-23 在線留言
詳細(xì)摘要： 圖片簡介SE300橢偏儀是一種利用光的偏振態(tài)變化來進(jìn)行薄膜性質(zhì)表征的儀器，主要用來測量薄膜材料的厚度、NK參數(shù)等性質(zhì)
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2023-01-22 在線留言
詳細(xì)摘要： 圖片簡介SE500橢偏儀是一種利用光的偏振態(tài)變化來進(jìn)行薄膜性質(zhì)表征的儀器，主要用來測量薄膜材料的厚度、NK參數(shù)等性質(zhì)
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2023-01-21 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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