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翌穎科技（上海）有限公司
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P-17是第八代臺式探針輪廓儀，是40多年的表面量測經驗的結晶。該系統業界，支持對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D和3D測量，其掃描可達200mm而無需圖像拼接。該系統結合了UltraLite®傳感器、恒力控制和超平掃描平臺，因而具備出色的測量穩定性。 通過點擊式平臺控制、頂視和側視光學系統以及帶光學變焦的高分辨率相機等功能，程序設置簡便快速。 P-17具備用于量化表面形貌的各種濾鏡、調......
P-17 Stylus Profiler P-17支持從幾納米到一毫米的臺階高度測量，適用于生產和研發環境。該系統可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D和3D測量，其掃描可達200mm而無需圖像拼接。 P-17是第八代臺式探針輪廓儀，是40多年的表面量測經驗的結晶。該系統業界，支持對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D和3D測量，其掃描可達200mm而無需圖像拼接。 該系統結合了UltraLite®傳感器、恒力控制和超平掃描平臺，因而具備出色的測量穩定性。 通過點擊式平臺控制、頂視和側視光學系統以及帶光學變焦的高分辨率相機等功能，程序設置簡便快速。 P-17具備用于量化表面形貌的各種濾鏡、調平和分析算法，可以支持2D或3D測量。 并通過圖案識別、排序和特征檢測實現全自動測量。 臺階高度：幾納米至1000μm 微力恒力控制：0.03至50mg 樣品全直徑掃描，無需圖像拼接 視頻：500萬像素高分辨率彩色攝像機 圓弧校正：消除由于探針的弧形運動引起的誤差 軟件：簡單易用的軟件界面 生產能力：通過測序、圖案識別和SECS/GEM實現全自動化 臺階高度：2D和3D臺階高度 紋理：2D和3D粗糙度和波紋度 形狀：2D和3D翹曲和形狀 應力：2D和3D薄膜應力 缺陷復檢：2D和3D缺陷表面形貌 大學、研究實驗室和研究所 半導體和化合物半導體 LED：發光二極管 太陽能 MEMS：微機電系統 數據存儲 汽車 醫療設備 還有更多，請與我們聯系以滿足您的要求產品描述
主要功能
主要應用
工業應用
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新品發布 - 布魯克 探針式輪廓儀/臺階儀 Dektak Pro
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