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冷場發射掃描電子顯微鏡(SEM)

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更新時間：2024-01-02 09:14:56瀏覽次數：528次

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產品簡介

儀器照片儀器名稱冷場發射環境掃描電子顯微鏡儀器型號Quanta400FEG生產廠家美國FEI儀器簡介QuantaFEG場發射環境掃描電子顯微鏡綜合場發射電鏡高分辨和ESEM環境掃描電鏡適合樣品多樣性的優勢，可對各種各樣的樣品（包括導電樣品、不導電樣品、含水含油樣品、加熱樣品等等）進行高分辨的靜態和動態觀察和分析

詳細介紹

儀器照片
儀器名稱	冷場發射掃描電子顯微鏡
儀器型號	S 4800
生產廠家	日本Hitachi公司
技術參數	1) 高分辨率FE-SEM對下列材料進行解析時具有一定的效果 2) 對電子材料表面形狀的高分辨率觀察(5nm以下) 3) 對高分子復合材料的低加速電壓低損傷觀察 4) 對納米材料表面／內部結構的相輔性觀察
適用領域	1) 廣泛地應用于各種金屬材料和非金屬材料的檢驗和研究 2) 在材料科學研究、金屬材料、化學材料、半導體材料、陶瓷材料等多個領域可以進行材料的微觀形貌、組織、成分分析，材料斷口分析和失效分析 3) 各種材料的形貌組織觀察；材料實時微區成分分析 4) 快速的多元素面掃描和線掃描分布測量；晶粒尺寸、形狀分析，晶體、晶粒取向測量 5) 元素定量、定性成分分析 6) 晶體、晶粒的相鑒定
檢測案例
檢測案例
樣品要求	1) 請根據自己樣品的性質及測試需求，自行查閱相關資料后，提供詳細的測試條件（電壓、電流、信號、放大倍數、標尺、理想的照片等） 2) 樣品量不少于30mg。可以接受固體、粉末、薄膜或纖維樣品 3) 潮濕的樣品不能測試。有機的樣品需要具體溝通