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鍍層厚度分析儀ＰＣＢ電鍍鍍層測厚儀金銅鎳鋅銀鍍層測試儀

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產品型號CUBE-X

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更新時間：2024-06-03 07:55:00瀏覽次數：211次

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產品簡介

品牌：ACZT安捷特型號：CUBE-X層數：單面基材：鋁【ACZET系列介紹：】X射線熒光分析測厚儀能提供：鍍層厚度和元素分析功能,不但性能*,而且

詳細介紹

	品牌：ACZT安捷特		型號：CUBE-X		層數：單面
	基材：鋁

【ACZET系列介紹：】

X射線熒光分析測厚儀能提供：鍍層厚度和元素分析功能,不但性能*,而且。分析鍍層厚度和元素成份同時進行，只需數秒鐘便能非破壞性地得到準確的測量結果，多層鍍層的厚度測量也一樣能勝任。輕巧的樣品室，適合不同大小的樣品，功能實用，準確性高,是五金電鍍,首飾,端子等行業的。
Cube系列可測量各類金屬、合金單層及多層的鍍層厚度、電鍍液中金屬離子的含量和合金元素成份及含量。
二、【ACZET系列特點：】
ACZET系列X射線鍍層測厚儀是基于X射線熒光技術，該技術已經被證實并且得到廣泛應用，可以在無須樣品制備的情況下提供易于操作、快速和無損的分析。它能分析固體和液體，元素范圍包括從元素周期表中的Ti22到U92，并且具有不同大小的樣品艙。
三、【ACZET系列優勢：】

操作簡單，只需要很少的培訓就可以操作
檢測速度快，無損檢測只需幾秒鐘
可測試單層及多層鍍層的厚度
可以測試電鍍液中金屬離子含量
對測試樣品無損
市場上*高性價比
自動化批量檢測：可選配XYZ全自動工作臺
應用行業廣泛：電子，珠寶，金屬加工等等

四、【ACZET系列操作軟件：】
X-Master是一款具備龐大應用功能的軟件，并且我們更多新的應用正不斷地加入更多新的應用。
可選軟件模塊

µ-Master 用于鍍層厚度測量
Element-Master 用于材料分析
Report-Master 用于生成報告文件
Data-Master 用于數據庫管理
%-Master 用于材料分析（珠寶）
Liquid-Master 用于電鍍液分析

Cube系列技術特點

一、功能
1. 采用X射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層、覆蓋層厚度，測量方法滿足GB/T 16921-2005標準（等同ISO3497：2000、 ASTM B568和DIN50987）。

鍍層元素范圍：鈦～鈾，包含常見的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、鉻、鈀等。
鍍層層數：多至5層。
測量點尺寸：圓形測量點，直徑約0.2-0.8毫米。
測量時間：通常35秒-180秒。
樣品*大尺寸：330 x 200 x 170 mm (長x寬x高)。
測量誤差：通常小于5%，視樣品具體情況而定。
可測厚度范圍：通常0.01微米到30微米，視樣品組成和鍍層結構而定。
同時定量測量8個元素。
定性鑒定材料達20個元素。
自動測量功能：編程測量，自定測量；修正測量功能：底材修正，已知樣品修正
定性分析功能：光譜表示，光譜比較；定量分析功能：合金成份分析
數據統計功能：x管理圖，x-R管理圖，直方柱圖。

二、特點
采用基本參數法校準，可在無標樣情況下生成校準曲線以完成測量。
X射線采用從上至下的照射方式，即使是表面高低不一的樣品也可以正確測量。反之，如果是從下至上的照射方式，遇到表面凹凸的樣品，無法調整Z軸距離，導致測量光程的變化，引起測量的誤差。
具有多種測試功能，僅需要一臺儀器，即可解決多種測試
相比其他分析設備，投入成本低
儀器操作簡單，便可獲得很好的準確性和重現性
綜合性能:鍍層分析定性分析定量分析
鍍層分析:可分析四層以上厚度,的FP分析軟件,真正做到無標準片亦能進行準確測量(需要配合純材料),為您大大節省購買標準片的成本.超越其他品牌的所謂FP軟件.
定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.
光譜對比功能:可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純度.
統計功能:能夠將測量結果進行系統分析統計,方便有效的控制品質.

三、技術參數

Item 項目	Part & Ref Number 部件號	Commodity & Description 貨物及描述
1	Cube X射線鍍層測厚儀	X射線光管微聚焦，高性能，鎢靶，焦斑尺寸0.2-0.8mm 高電壓 50千伏（1.2毫安）可根據軟件控制優化探測器高分辨氣體正比計數探測器準直器單一固定準直器直徑0.3mm 樣品倉 330 x 200 x 170 mm 樣品臺手動Z軸樣品臺電源 230VAC, 50/60Hz, 120W / 100W 儀器尺寸 350 x 420 x 310 mm 儀器重量 27Kg Windows 10操作系統和計算機主機 19寸液晶顯示器