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納米級機械測試儀器 專為各種材料的表征和開發過程中進行測量

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更新時間:2023-07-06 15:12:41瀏覽次數:184次

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產品簡介

NanoIndenter®G200系統專為各種材料的表征和開發過程中進行納米級測量而設計

詳細介紹

Nano Indenter® G200系統專為各種材料的表征和開發過程中進行納米級測量而設計。 該系統是一個可升級,可擴展且經過生產驗證的平臺,全自動硬度測量可應用于質量控制和實驗室環境。



產品描述

Nano Indenter® G200系統是一種準確,靈活,使用方便的納米級機械測試儀器。 G200測量楊氏模量和硬度,包括從納米到毫米的六個數量級的形變測量。 該系統還可以測量聚合物,凝膠和生物組織的復數模量以及薄金屬膜的蠕變響應(應變率靈敏度)。 模塊化選項可適用于各種應用:頻率特定測試,定量刮擦和磨損測試,集成的基于探頭的成像,高溫納米壓痕測試,擴展負載容量高達10N和自定義測試。



主要功能
電磁驅動可實現高動態范圍下力和位移測量

用于成像劃痕,高溫納米壓痕測量和動態測試的模塊化選項

直觀的界面,用于快速測試設置; 只需幾個鼠標點擊即可更改測試參數

實時實驗控制,簡便的測試協議開發和精確的熱漂移補償

屢獲殊榮的高速“快速測試"選項,用于測量硬度和模量

多功能成像功能,測量掃描和流程化測試方法,幫助快速得到結果

簡單快捷地確定壓頭面積函數和載荷框架剛度



主要應用

高速硬度和模量測量

界面附著力測量

斷裂韌性測量

粘彈性測量

掃描探針顯微鏡(3D成像)

耐磨損和耐刮擦

高溫納米壓痕


工業應用
大學,研究實驗室和研究所

半導體和電子工業制造業

輪胎行業

涂層和涂料工業

生物醫藥行業

醫療儀器

更多應用:請根據您的要求與我們聯系


關鍵詞:顯微鏡

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