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X熒光光譜儀在銅材檢測中的應用，天瑞儀器

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更新時間：2023-02-10 09:27:10瀏覽次數：666次

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產品簡介

型號：EDX4500介紹EDX4500X熒光光譜儀是利用XRF技術解決內水泥廠、鋼鐵公司對復雜成份、多類型櫚中元素的快速、分析

詳細介紹

型號：EDX4500

介紹
EDX4500 X熒光光譜儀是利用XRF技術解決內水泥廠、鋼鐵公司對復雜成份、多類型櫚中元素的快速、分析。該技術的主要特征為：利用低能X光激發待測元素，對Si、S、AI、Na、Mg等輕元素有良好的激發效果，并且測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率；采用UHRD探測器，具有良好的能量線性和能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比；采用自動穩譜裝置，了儀器工作的致性；利用解譜技術使譜峰分解，使采用UHRD探測器的分析儀對Si、S、AI等輕元素的測試具有和的分析精度；采用相似自動分類技術使分類更，地克服基效應對測量帶來的影響；采用多參數的線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的消除。
性能特點
專業的水泥、鋼鐵、礦料等元素分析，亦可用于鍍層檢測和RoHS檢測。
內置信噪比增強器可提高儀器信號處理能力25倍。
針對不同樣品可自動切換準直器和濾光片。
電制冷UHRD探測器，摒棄液氮制冷。
智能元素分析軟件，與儀器硬件相得益彰，且操作簡單。
技術指標
測量元素范圍：從鈉（Na）至鈾（U）
元素含量分析范圍：1ppm—99.99%
同時分析元素：24種元素同時分析
測量鍍層：鍍層厚度測量薄至0.005微米，可分析5層以上的鍍層
分析精度：0.05%
測量對象狀態：粉末、固體、液體
測量時間：60s—200s
能量分辨率為：（150±5）eV
管壓：5KV—50KV
管流：50uA—1000uA
標準配置
電制冷UHRD探測器
信噪比增強器
光路增強系統
內置高清晰攝像頭
可自動切換型準直器和濾光片
的升降平臺
加強的金屬元素感度分析器
應用領域
鋼鐵和有色金屬檢測
水泥檢測
礦料分析

是專業生產X熒光光譜儀，氣相色譜質譜聯用儀,鍍層測厚儀，電感耦合等離子體發射光譜儀,ROHS分析儀，X射線鍍層測厚儀，，ROHS測量儀，液相色譜儀，ROHS2.0分析儀，XRF，X熒光光譜儀，汽油中硅含量檢測儀， ROHS檢測儀器，手持式合金分析儀等，涉及的儀器設備主要有EDX1800B,Thick800A，Thick8000，ICP2060T,GC-MS6800，ICP-MS2000等。