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捷歐路JEOL JSM-IT100系列掃描電子顯微鏡

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更新時(shí)間：2022-12-24 16:33:41瀏覽次數(shù)：185次

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產(chǎn)品簡介

詳細(xì)介紹

捷歐路JEOL JSM-IT100系列掃描電子顯微鏡，凝聚了日本電子50年來的SEM技術(shù)精華，外形設(shè)計(jì)緊湊。新開發(fā)的標(biāo)準(zhǔn)機(jī)型，不僅保持了InTouchScope系列的可操作性，還擁有能與機(jī)型相媲美的可擴(kuò)展性，應(yīng)用范圍涵蓋以生物技術(shù)和納米技術(shù)為首的包括材料開發(fā)、測試、評估和缺陷分析及質(zhì)量控制等廣泛領(lǐng)域。配置EDS功能的機(jī)型，其集成化的軟件系統(tǒng)能完成從圖像觀察、元素分析到生成報(bào)告的連貫操作。InTouchScopeTM自2010年上市以來，客戶已遍及世界多國，累計(jì)銷售量超過1,000臺以上，是鎢燈絲掃描電鏡中的機(jī)型。

捷歐路JEOL JSM-IT100系列掃描電子顯微鏡采用了高度集成的GUI，一鍵點(diǎn)擊就可實(shí)現(xiàn)SEM和 EDS之間的切換，從圖像觀察到元素分析能在同一個(gè)窗口進(jìn)行操作。連貫的操作步驟使初學(xué)者也能簡便、放心地使用。配有低真空功能，即使是非電性樣品不經(jīng)預(yù)處理也能進(jìn)行觀察和分析。除了低真空觀察、元素分析及可安裝5軸馬達(dá)驅(qū)動樣品臺外，加速電壓還可以擴(kuò)展到30kV。采用日本電子制造的EDS，實(shí)現(xiàn)了GUI的高度集成，可以在同一窗口進(jìn)行SEM和EDS之間的切換。InTouchScopeTM 系列的EDS還擴(kuò)展了區(qū)域分析、線分析和實(shí)時(shí)過濾功能。

分辨率	高真空模式:　3 nm(30 kV *1)、4 nm(20 kV)、8 nm(3 kV) 、15 nm(1 kV)
分辨率	低真空模式2:　4 nm(30 kV 1) 5 nm(20kV)
放大倍率	× 5 ～× 300,000　（圖像尺寸：128mm × 96mm）
低真空范圍	低真空范圍
加速電壓	0.5 kV ～ 30 kV 0.5 kV ～ 20 kV
燈絲	工廠預(yù)對中鎢燈絲
電子槍	可以自動和手動調(diào)節(jié)
聚光鏡	高精度變焦聚光鏡
物鏡	錐形物鏡
物鏡光闌	固定光闌，帶有XY 微調(diào)功能
像散記憶	10pa～300pa
樣品臺	全對中樣品臺 X: 80 mm、Y: 40 mm、Z: 5 mm ～ 48 mm、傾斜: -10°～ + 90°, 旋轉(zhuǎn): 360°
樣品尺寸	150 mm 直徑
圖像格式	BMP、TIFF、JPEG
EDS功能	譜圖采集、點(diǎn)分析、定性分析、定量分析、元素面分布、束流追蹤
標(biāo)準(zhǔn)菜單	有
客戶菜單	觀察條件、樣品臺、真空模式
自動功能	燈絲調(diào)整、自動對中、自動聚焦、自動消像散、自動襯度/亮度
真空系統(tǒng)	自動、TMP: 1臺、RP: 1臺