秦思肯 XEIA3 model 2016 高分辨掃描電子顯微鏡

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秦思肯 XEIA3 model 2016 高分辨掃描電子顯微鏡是一款的能實(shí)現(xiàn)綜合性能的一體化FIB-SEM。秦思肯 XEIA3 model 2016 高分辨掃描電子顯微鏡具備了各種強(qiáng)大的應(yīng)用功能，如快捷的微納米FIB加工，超高分辨率可靠分析或復(fù)雜的3D重構(gòu)分析等。TESCAN不僅提供秦思肯 XEIA3 model 2016 高分辨掃描電子顯微鏡這類型的儀器設(shè)備，也同時(shí)致力于推動(dòng)科學(xué)研究的前沿發(fā)展。TESCAN的定制系統(tǒng)能滿足各類客戶的具體需求，從材料科學(xué)到生命科學(xué)，從材料工程到半導(dǎo)體行業(yè)，TESCAN的設(shè)備一直都表現(xiàn)出高性能的特點(diǎn)。

以下是艾克賽普為您介紹秦思肯 XEIA3 model 2016 高分辨掃描電子顯微鏡的主要特點(diǎn)，如有相關(guān)問(wèn)題，請(qǐng)聯(lián)系長(zhǎng)沙艾克賽普，聯(lián)系電話：。

秦思肯 XEIA3 model 2016 高分辨掃描電子顯微鏡主要特點(diǎn)：新開(kāi)發(fā)的配備TriglavTM物鏡及*探測(cè)系統(tǒng)的高分辨掃描電子顯微鏡；的無(wú)交叉模式及超高分辨率物鏡的組合，以獲得良好的成像模式*可變的探測(cè)系統(tǒng)能同時(shí)獲得各種信號(hào)；超高納米分辨率：0.7nm@15keV；極限分辨率：1nm@1keV；角度選擇BSE探測(cè)器能在低束能下獲得的形貌及元素襯度；實(shí)時(shí)電子束追蹤技術(shù)TM能優(yōu)化電子束性能；傳統(tǒng)的TESCAN大視野光學(xué)器件™設(shè)計(jì)提供各種工作和顯示模式；EquiPower™提供了優(yōu)秀的電子束穩(wěn)定性；新的肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍能使電子束流達(dá)到400nA以及實(shí)現(xiàn)電子束能量的快速改變；的探測(cè)技術(shù)可應(yīng)用于*的失效分析過(guò)程中；易損生物樣品的成像；磁性樣品的成像；優(yōu)化的幾何鏡筒分布能夠獲得8’’晶圓分析手段（SEM探測(cè)，F(xiàn)IB微加工）；3D電子束技術(shù)的立體成像；友好的用戶界面，成熟的軟件模塊和自動(dòng)化程序

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