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WH82鐵鋁基兩用涂層測厚儀

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更新時間：2023-10-17 10:25:28瀏覽次數(shù)：145次

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產(chǎn)品簡介

WH82鐵鋁基兩用涂層測厚儀，鐵基和鋁基兩用快速全自動轉換（無須手動操作轉換）。除單點校準、兩點校準和恢復出廠設置功能外，還增加了自助標定修復功能；當儀器測頭因長期磨損導致測試值誤差超出正常范圍時，用戶可直接向儀器重新輸入數(shù)據(jù)，修復儀器測頭系統(tǒng)，恢復測量準確度，節(jié)約返廠時間及運輸成本。

詳細介紹

WH82鐵鋁基兩用涂層測厚儀

產(chǎn)品介紹

WH82鐵鋁基兩用涂層測厚儀，鐵基和鋁基兩用快速全自動轉換（無須手動操作轉換）。除單點校準、兩點校準和恢復出廠設置功能外，還增加了自助標定修復功能；當儀器測頭因長期磨損導致測試值誤差超出正常范圍時，用戶可直接向儀器重新輸入數(shù)據(jù)，修復儀器測頭系統(tǒng)，恢復測量準確度，節(jié)約返廠時間及運輸成本。

Fe質探針可檢測所有非磁性涂層厚度，例如涂在鋼、鐵上的漆、粉末涂層、塑料、瓷等。
NFe質探針檢測所有絕緣涂層厚度，例如涂在諸如鋁、銅、黃銅或不銹鋼等非磁性金屬基體上的漆、塑料、瓷等。

WH82鐵鋁基兩用涂層測厚儀測量原理

采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。

a) 磁性法(F 型測量頭)

當測量頭與覆蓋層接觸時，測量頭和磁性金屬基體構成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過測量其變化可導出覆蓋層的厚度。

b) 渦流法(N 型測量頭)

利用高頻交變電流在線圈中產(chǎn)生一個電磁場，當測量頭與覆蓋層接觸時，金屬基體上產(chǎn)生電渦流，并對測量頭中的線圈產(chǎn)生反饋作用，通過測量反饋作用的大小可導出覆蓋層的厚度。

WH82鐵鋁基兩用涂層測厚儀技術參數(shù)

測量范圍	0-1500um
工作電源	兩節(jié) 5 號電池
測量精度誤差	零點校準 ±(1+3%H);二點校準±【(1%～3%H)】H+1.5
環(huán)境溫度	0-40℃
相對濕度	≤85%
小基體	10*10mm
小曲率	凸：5mm;凹：5mm
薄基體	0.4mm
重量	115 克(含電池)
尺寸	102mm66mm24mm