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廣州鴻熙電子科技有限公司

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iEDX-150WT膜厚儀(X射線鍍層測厚儀)

參  考  價:面議
具體成交價以合同協議為準

產品型號

品牌

廠商性質其他

所在地

更新時間:2022-07-12 14:11:11瀏覽次數:395次

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iEDX-150WT膜厚儀鍍層檢測,多鍍層檢測可達5層,精度及穩定性高。

公司介紹

 

廣州鴻熙電子科技有限公司于2013年7月13日成立。公司位于珠三角交通樞紐廣州市增城區新塘鎮。創始人在跨國科研儀器公司任職逾12年,對科研儀器行業有非常豐富的經驗。

公司的分析光譜儀,集鍍層厚度、金屬成份分析、RoHS檢測于一體,具備*的性價比。產品廣泛應用于電子制造、礦山、化工、金銀首飾、冶煉及金屬加工、機械等行業對企業產品品質檢測、成本控制、生產效率的提高有著*的經濟價值。經過大量環境試驗、生物實驗及相關檢測實驗中心的數據驗證,本公司所生產的分析光譜儀的度及性能居同行業地位。

公司研發隊伍強勁,并與韓國X射線研究所、美國密西根大學光譜領域專家、清華大學精密儀器系教授攜手合作,以歐美現有技術為基礎,在X射線光譜儀核心技術上取得重大突破的同時,還擁有40多項*的技術和差異化產品,多項核心技術處于水平。公司與韓國ISP的合作產品在中國大陸主要以客戶為主,其以優質的性價比獲得了客戶的*。

 

膜厚儀產品優勢及特征

(一)產品優勢

1. 鍍層檢測,多鍍層檢測可達5層,精度及穩定性高(見以下產品特征詳述

2. 平臺尺寸:620*525mm,樣品移動距離可達220*220*10mm(固定臺可選)

3. 激光定位和自動多點測量功能。

  • 可檢測固體、粉末狀態材料。
  • 運行及維護成本低、無易損易耗品,對使用環境相對要求低。
  • 可進行未知標樣掃描、無標樣定性,半定量分析。
  • 操作簡單、易學易懂、無損、高品質、高性能、高穩定性,快速出檢測結果。
  • 可針對客戶個性化要求量身定做輔助分析配置硬件。
  • 軟件*升級。
  • 無損檢測,一次性購買標樣可使用。
  • 使用安心無憂,售后服務響應時間24H以內,提供保姆式服務。
  • 可以遠程操作,解決客戶使用中的后顧之憂。
  • 可進行RoHS檢測(選配功能),測試RoHS指令中的鉛、汞、鎘、鉻、鋇、銻、硒、砷等重金屬,測試無鹵素指令中的溴、氯等有害元素。亦可對成分進行分析。

(二)產品特征

  • 高性能高精度X熒光光譜儀(XRF)
  • 計算機 / MCA(多通道分析儀)

2048通道逐次近似計算法ADC(模擬數字轉換器)。

  • Multi Ray. 運用基本參數(FP)軟件,通過簡單的三步進行無標樣標定,使用基礎參數計算方法,對樣品進行的鍍層厚度分析。

可以增加RoHS檢測功能。

  • MTFFP (多層薄膜基本參數法) 模塊進行鍍層厚度及全元素分析

勵磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1

吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2

線性模式進行層厚度測量

相對(比)模式  無焦點測量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497

多鍍層厚度同時測量

  • 測試能力(基本配置:PIN探測器+0.3準直器

 

   當化金厚度在2u〞-5u〞時,測量時間為40S

   準確度規格 ±5% 

   度規格 <5%(COV變動率)

 

   當化金厚度 >5u〞時,測量時間為40S

   準確度規格 ±5%

   度規格 <5%(COV變動率)

 

   當化銀厚度在5u〞-15u〞時,測量時間為40S

   準確度規格 ±8%

      度規格 <7%(COV變動率)

 

   測化錫時,測量時間為40S

   準確度規格 ±8%

   度規格 <6% (COV變動率)

 

      準確度公式:準確度百分比=(測試10次的平均值-真值)/真值*99%

   度COV公式: (S/10次平均值)*99%

 

  • Multi-Ray, Smart-Ray. WINDOWS7軟件操作系統
  • 完整的統計 準差、 低/高讀數趨勢線Cp 和 Cpk 因素等
  • 自動移動平臺,用戶使用預先設定好的程序進行自動樣品測量。大測量點數量 = 9999 每個階段文件。每個階段的文件多 25 個不同應用程序。特殊工具"線掃描"和"格柵"。每個階段文件包含*統計軟件包。包括自動對焦功能、方便加載函數、瞄準樣品和拍攝、激光定位和自動多點測量功能

 

 

膜厚儀產品配置及技術指標說明

 

u 測量原理:能量色散X射線分析

u 樣品類型:固體/粉末

u X射線光管:50KV1mA

u過濾器:5過濾器自動轉換

u檢測系統:Pin探測器(可選SDD)

u能量分辨率:159eVSDD:125eV

u檢測元素范圍:Al (13) ~ U(92)

u準直器孔徑0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm(可選)

u應用程序語言:韓/英/中

u分析方法:FP/校準曲線,吸收,熒光

u儀器尺寸:840*613*385mm

u樣品移動距離:220*220*10 mm(自動臺)

 

1. X射線管:高穩定性X光光管,使用壽命(工作時間>18,000小時)

微焦點X射線管、Mo ()

鈹窗口, 陽極焦斑尺寸75um,油絕緣,氣冷,輻射安全電子管屏蔽。

50kV,1mA。高壓和電流設定為應用程序提供性能。

  • 探測器:SDD 探測器(可選Si-Pin

能量分辨率:125±5eVSi-Pin:159±5eV

  • 濾光片/可選

初級濾光片:Al濾光片,自動切換

7個準直器:客戶可選準直器尺寸或定制特殊尺寸準直器。

(0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm )

  • 平臺:軟件程序控制步進式電機驅動X-Y軸移動大樣品平臺
    激光定位、簡易荷載大負載量為5公斤
    軟件控制程序進行持續性自動測
  • 樣品定位:顯示屏上顯示樣品鎖定、簡易荷載、激光定位及拍照功能

6. 分析譜線:

- 2048通道逐次近似計算法ADC(模擬數字轉換)

- 基點改正(基線本底校正)

- 密度校正

- Multi-Ray軟件包含元素ROI及測量讀數自動顯示

7.視頻系統:高分辨率CCD攝像頭、彩色視頻系統

- 觀察范圍:3mm x 3mm

- 放大倍數:40X

- 照明方法:上照式

- 軟件控制取得高真圖像

8. 計算機、打印機(贈送)

  • 含計算機、顯示器、打印機、鍵盤、鼠標
  • 含Win 7/Win 10系統。
  • Multi-Ray鍍層分析軟件

注:設備需要配備穩壓器,需另計

 

 

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