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二極管浪涌電流電子元器件失效分析測試

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更新時間：2024-01-15 10:36:08瀏覽次數：428次

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西安長禾半導體技術有限公司

經營模式：其他

商鋪產品：6條

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產品簡介

二極管浪涌電流電子元器件失效分析測試西安長禾半導體技術有限公司功率器件測試實驗室(簡稱長禾實驗室)位于西安市*經濟開發區，是一家從事功率半導體器件測試服務的，是CNAS 認可實驗室，屬于大功率器件測試服務中心。

詳細介紹

二極管	1	反向漏電流	半導體測試方法測試標準 MIL-STD-750F:2012 4016.4	只測： 0～100mA
	1	反向漏電流	半導體分立器件試驗方法 GJB 128A-1997 4016	只測： 0～100mA
	2	反向擊穿電壓	半導體測試方法測試標準 MIL-STD-750F:2012 4021.2	只測： 0～3.5kV
	3	正向壓降	半導體測試方法測試標準 MIL-STD-750F:2012 4011.4	只測： IS：0A～6000A
	3	正向壓降	半導體分立器件試驗方法 GJB 128A-1997 4011	只測： IS：0A～6000A
	4	浪涌電流	半導體分立器件試驗方法 GJB 128A-1997 4066	只測： If：0A～9000A
	5	反向恢復電荷	半導體測試方法測試標準 MIL-STD-750F:2012 3473.1	只測： 1nC～100µC
	5	反向恢復時間	半導體測試方法測試標準 MIL-STD-750F:2012 3473.1	只測： 10ns～2us
	6	二極管反壓變化率	半導體測試方法測試標準 MIL-STD-750F:2012 3476	只測： VR：5V～3300V， IF：1A～1500A
	7	單脈沖雪崩能量	半導體測試方法測試標準 MIL-STD-750F:2012 4064	只測： L：0.01mH～159.9mH， IAS：0.1A～1500A
	7	穩態熱阻	半導體測試方法測試標準 MIL-STD-750F:2012 3136	只測： Ph：0.1W～80W
	8	總電容電荷	半導體器件分立器件和集成電路第2部分:整流二極管 IEC 60747-2:2016 6.1.8	只測： -3kV～3kV,0～1MHz