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MICROTEST系列原位動態拉伸試驗臺

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更新時間：2021-06-29 17:21:11瀏覽次數：456次

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北京歐波同

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產品簡介

MICROTEST系列原位動態拉伸試驗臺

詳細介紹

品牌： Deben	名稱型號：MICROTEST系列原位動態拉伸試驗臺
制造商： Deben公司	經銷商：歐波同有限公司
免費：	：

產品綜合介紹：

產品功能介紹
　　掃描電鏡原位拉伸臺是一種動態觀察和分析材料微觀變形形貌及斷裂機制的手段,在材料科學前沿研究中發揮了重要作用。在掃描電鏡上進行材料試驗，可以充分利用掃描電鏡的強大的景深、高空間分辨和分析功能，在微觀層面上對材料的力學性能進行動態研究。
　　Deben公司MICROTEST系列樣品臺可以為很多材料做拉伸測試，如金屬材料（研究韌斷過程、應力誘發相變及塑性變形）,高分子材料，陶瓷材料等。通過掃描電鏡對微觀結構的形態變化進行原位成像，從而深入理解形態變化的原因并對變化的原因并對變化時刻進行成像。結合對動態實驗的信息可以克服對傳統的應力/應變數據解釋的不確定因素。針對拉伸、擠壓和彎曲測試，我們提供很多款裝置，負載范圍從2N到5000N。
　　MICROTEST原位拉神臺針對SEM而特殊設計，有四個版本可以使用，分別為較大載荷范圍200N、300N、2000N、5000N的拉神臺。

1.MICROTEST200系列拉伸臺

　　動態測試臺，在SEM內外都能操作。大200N負載，可以進行拉伸、壓縮實驗，可配水平方向上3或4點彎曲。MICROTEST200B可以實現垂直三點彎曲。

2.MICROTEST300系列拉伸臺

　　動態測試臺，在SEM內外都能操作。大300N負載，可以進行拉伸、壓縮實驗，可配水平方向上3或4點彎曲。MICROTEST200B可以實現垂直三點彎曲。

3.MICROTEST2000系列拉伸臺

　　MICROTEST2000系列拉神臺和MICROTEST2000E動態測試樣品臺模塊，大載荷2000N，在掃描電鏡（SEM）里面和外面都可以使用。MICROTEST2000可以工作在拉伸或壓縮模式，并可選配水平彎曲夾具。MICROTEST 2000B 設計用于垂直3-/4-點彎曲夾具。MICROTEST 2000E拉伸臺設計用于配置EBSD的掃描電鏡研究（MICROTEST 2000ES室溫版本，MICROTEST 2000EW水冷版本，是加熱夾具的基本配置，同事可以選配EH2000升級為可實現加熱狀態下拉伸測試）。

4.MICROTEST5000系列拉神臺

　　MICROTEST5000是一個可工作于拉伸或壓縮模式的高載荷（5000N）動態測試樣品臺模塊，可以進行拉伸、壓縮實驗，可配水平方向上3或4點彎曲。（MICROTEST5000S為室溫版本，MICROTEST5000W為水冷版本，是加熱夾具的基本配置，同時可以選配H5000升級為同時進行加熱或冷卻狀態下的拉伸測試）。

品牌介紹

　　美國Deben公司成立于1964年并于70年代末進入中國市場。Deben公司以其產品的高性能及技術的*性在電鏡界享有*聲譽。
　　作的設計和制造用于增強和拓展電子顯微鏡功能的附件廠商，其產品涵蓋了從樣品制備到成像、分析等所有步驟的需求。產品應用范圍包括材料科學、生命科學、地球物理學、電子學，能源科學等領域，客戶范圍涵蓋的科研院所，高校，各類檢測機構及大型工業企業實驗室，并且在科學研究領域得到了廣泛認同。

經銷商介紹

　　歐波同有限公司的微納米技術服務供應商，是一家以外資企業作為投資背景的，總部位于香港，分別在北京、上海、遼寧、山東等地設有分公司和辦事處。作為蔡司電子顯微鏡、Deben掃描電子顯微鏡制樣設備及附屬分析設備在中國地區重要的戰略合作伙伴，公司秉承"打造國內影響力的儀器銷售品牌"的經營理念，與蔡司，Deben品牌強強聯合，正在為數以萬計的中國用戶提供高品質的產品與技術服務。

產品主要技術特點：

1、大載荷范圍：200N、300N、2000N和5000N
2、可更換的稱量傳感器量程小到2N
3、應變速率：5μm/min - 6 mm/min
4 、可選3點和4點水平彎曲附件
5、EBSD樣品專用附件
6 、加熱和水冷臺上配備的定制鉗口
7、簡單的軟件用戶界面提供了實時應力應變曲線，結合靈活的閥值可以進行復雜的實驗，包括循環負載。
8、支持同步圖像和數據采集，可以通過應力應變對樣品變化過程進行細節分析。

產品主要應用領域：

1、金屬及鍍層：用于研究晶粒變化、鍍層結合情況、高溫形變及松弛機理、晶粒旋轉及織構變化。
2、復合材料：用于研究材料韌性及強度
3、纖維：研究材料強度
4 、聚合物：用于研究塑性流動及失效機制
5、脆性材料：研究微小裂縫的起源及鈍化現象
6 、地質學：研究巖石的熱壓縮實驗及冰巖芯的冷變形機制