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江蘇海蘭達爾環境科技有限公司
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Palas®SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀是*的納米顆粒測量系統，可測量4nm到1200nm的氣溶膠粒徑分布，不僅能夠提供準確可靠的粒徑分析和計數功能，而且高達256原始通道能夠實現高粒徑分辨率。
Palas® 通用掃描遷移率粒徑譜儀（U-SMPS）可提供兩種版本。長分類柱（2050X / 2100X / 2200X 型號）可以確定8 至1200 nm的粒徑分布。該系列已經集成了X射線源作為中和器，代替放射性中和器（例如使用Kr-85），優點是在運輸過程中無需遵循針對放射源的要求。Palas®U-SMPS系統包括一個分類器，可根據氣溶膠顆粒的電遷移率選擇相應的氣溶膠顆粒并傳送到出口。然后通過冷凝顆粒計數器（例如UF-CPC）對這些顆粒進行計數。三種可用的UF-CPC型號可在各種濃度范圍內實現的單顆粒計數。
Palas 使用了由Wiedensohler 教授（IfTLeipzig，德國）開發的演算算法，將測量數據轉化為U-SMPS的顆粒分布。U-SMPS使用圖形化用戶界面并在觸摸屏上進行操作。一次粒子分布掃描可以在短短30秒之內執行，并且每十進制多達64 個尺寸通道。在掃描期間，DEMC分類器中的電壓連續變化，從而導致每個尺寸通道的計數統計效率更高。（可達10 6 顆粒/cm3 ）進行監測。
Palas®U-SMPS 支持DMA，CPC和其他制造商的氣溶膠靜電計。 U-SMPS對顆粒物準確的尺寸確定和可靠性能極其重要，尤其是對于校準來說。所有組件都必須通過嚴格的質量保證測試，并且必須內部組裝。選配的干燥器（例如硅膠，Nafion）可以去除顆粒中的水分。雙極中和劑（XRC 049）用于確保氣溶膠電荷分布符合預定。 在DEMC的入口處需要一個撞擊器以去除大于分類器尺寸范圍的顆粒。
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產品概述:
Fidas®U-SMPS通用掃描遷移率粒徑譜儀