恒美冠層分析儀主要是用來監(jiān)測大田作物的長勢、養(yǎng)分診斷、育種材料篩選等，是現(xiàn)代農(nóng)業(yè)生產(chǎn)中一項(xiàng)非常重要的育種信息化設(shè)備。但是由于操作不當(dāng)造成植物冠層分析儀測量的數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確對作物生長造成影響的情況時有發(fā)生，因此在使用中應(yīng)避免這些不當(dāng)?shù)牟僮鳎趺床拍鼙ＷC冠層分析儀的有效率準(zhǔn)確性呢？
植物冠層分析儀采用冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理。它是根據(jù)光線穿過介質(zhì)減弱的比爾定律，在對植物冠層定義了一系列假設(shè)前提的條件下，采用半理論半經(jīng)驗(yàn)的公式，通過冠層孔隙的測定，計(jì)算出冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)。這是目前世界上各種冠層儀都是采用的原理，在上述原理下，植物冠層分析儀采用的是對冠層下測量冠層孔隙率方法，該方法是各類方法中較準(zhǔn)確和較省力、省時、快捷方便的方法。
1，葉片與傳感器離的太近，容易導(dǎo)致測量結(jié)果出現(xiàn)誤差。植物冠層分析儀主要是通過傳感器對作物進(jìn)行測量的，因此在測量中，要時刻注意葉片和傳感器的距離，不要離的太近，但是如果無法避免，可以通過多測量幾次來解決這個問題。
2，避免陽光直接照射植物冠層分析儀。因陽光直射會影響測量結(jié)果，所以較好在日出日落或者多云天氣進(jìn)行測量，其中遮蓋帽設(shè)計(jì)就是為了降低由于光線造成的誤差，比如從傳感器的失業(yè)中去除太陽、從視野中去除操作者的影響、天空亮度不均勻、冠層內(nèi)有明顯的空隙、減小對測量樣地尺寸的需要、減小森林內(nèi)必需的空地尺寸等。
3，在斜坡上使用植物冠層分析儀也會導(dǎo)致測量結(jié)果不準(zhǔn)確。在斜坡使用植物冠層分析儀的時候，應(yīng)盡量保持傳感器與斜坡的匹配，而不是實(shí)際的水平。
4，傳感器的視野范圍會影響植物冠層分析儀的測定結(jié)果。要保證傳感器的視野范圍高出冠層3倍，要求樣地的尺寸不能太小，也不能太大，如果無法解決樣地尺寸大小的問題，可以采用觀察帽的方法或是除第5個環(huán)的數(shù)據(jù)來解決這個問題。
綜上所述，在實(shí)際操作中能夠規(guī)避以上的缺點(diǎn)，才能夠保證冠層分析儀能夠準(zhǔn)確有效的完成任務(wù)，感謝大家閱讀本文，如有產(chǎn)品資訊或者公司建議請及時，恒美科技虔誠為您服務(wù)！
