產(chǎn)品簡(jiǎn)介
測(cè)量范圍 | 單模多模 | 電源電壓 | 220v |
---|---|---|---|
環(huán)境溫度 | 常溫 | 加工定制 | 否 |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 生物醫(yī)藥,煤礦,科學(xué)研究 | 準(zhǔn)確度 | 99% |
![]() |
深圳市創(chuàng)聯(lián)信息科技有限公司 |
參考價(jià) | ¥115000 |
訂貨量 | 1 件 |
更新時(shí)間:2020-07-15 19:38:27瀏覽次數(shù):420
聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說明是環(huán)保在線上看到的信息,謝謝!
聯(lián)系方式:許先生查看聯(lián)系方式
測(cè)量范圍 | 單模多模 | 電源電壓 | 220v |
---|---|---|---|
環(huán)境溫度 | 常溫 | 加工定制 | 否 |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 生物醫(yī)藥,煤礦,科學(xué)研究 | 準(zhǔn)確度 | 99% |
OFP-100-Q分析師稱新版本將于10月發(fā)售
福祿克OFP-100-Q要怎么選擇測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)?找他(連訊達(dá)鄒先生1-3 7- 1 5- 29 - 75 1 0)OFP-100-Q十年又過去,外觀仍像新機(jī),我跟你每天仍聚聚,在夜里也聚,留在你電腦桌面里,當(dāng)初那懵懂工程師,現(xiàn)已經(jīng)與ofp-100-q共同成長(zhǎng)為專業(yè)工程師,時(shí)間就像青春洪水,一去亦不可追,OFP-100-Q還是當(dāng)初的模樣。
OFP-100-Q分析師稱新版本將于10月發(fā)售
FLUKE向來以「軟硬協(xié)同」聞名,每一款硬件測(cè)試儀的背后都少不了底層標(biāo)準(zhǔn)的服務(wù),甚至在部分人眼中,福祿克標(biāo)準(zhǔn)所構(gòu)建的生態(tài)才是讓用戶一直離不開福祿克測(cè)試儀的主要原因。
所以除了秋季發(fā)布會(huì),每年六月的「福祿克標(biāo)準(zhǔn)制定大會(huì)」也會(huì)吸引大量的關(guān)注。今年的 WWDC20 將于北京時(shí)間 6 月 23 凌晨 2 點(diǎn)開幕,按照福祿克的說法,這將是「迄今樶大規(guī)模」的標(biāo)準(zhǔn)*大會(huì)。雖然因?yàn)橐恍?的原因無法在線下舉辦,但*采用虛擬的承辦形式也讓外界對(duì)這場(chǎng)*大會(huì)更生期待。
按照 WWDC 以往的慣例,包括 福祿克網(wǎng)線測(cè)試儀、福祿克網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀、福祿克光纖測(cè)試儀、福祿克打線工具 等福祿克生態(tài)系統(tǒng)都將推出新版本。而硬件發(fā)布雖然不是 WWDC 的「固定節(jié)目」,但根據(jù)外界傳聞,我們也極有可能在 WWDC20 迎來不止一款新產(chǎn)品。
OFP-100-Q分析師稱新版本將于10月發(fā)售
新的支持和功能:
福祿克OFP-100-Q還支持用戶可以查看和報(bào)告FI-3000光纖檢測(cè)器的單光纖結(jié)果™ Pro MPO光纖檢測(cè)探頭。
在Versiv固件更新期間,用戶會(huì)看到一個(gè)提示,提醒他們更新主設(shè)備和相應(yīng)的遠(yuǎn)程設(shè)備。
Versiv main和remote在軟件版本屏幕中顯示型號(hào)、序列號(hào)、軟件版本和配置。
LinkWare PC版本和內(nèi)部版本號(hào)顯示在幫助->關(guān)于屏幕上。
“測(cè)試信息”對(duì)話框和“光纖結(jié)果報(bào)告”在單獨(dú)的標(biāo)題下列出模塊/探頭信息,以提高清晰度。
重命名電纜ID時(shí),新電纜ID文本框?qū)㈩A(yù)先填充現(xiàn)有ID,以簡(jiǎn)化重命名。
福祿克OFP-100-Q還支持關(guān)鍵錯(cuò)誤修復(fù):
事件映射現(xiàn)在將結(jié)束事件圖標(biāo)放在“End2”文本的頂部
設(shè)置跨距后,光纖端1和端2細(xì)節(jié)不再消失。
現(xiàn)在,當(dāng)使用多個(gè)數(shù)字字段時(shí),電纜ID將正確排序。
當(dāng)用戶試圖打開需要更新版本LinkWare PC的結(jié)果時(shí),會(huì)顯示一條消息。
OTDR結(jié)果現(xiàn)在在測(cè)試摘要窗格中顯示狀態(tài)和邊距。
FI-3000通過/失敗結(jié)果不再標(biāo)記為測(cè)試摘要窗格中的差邊距。