環(huán)保在線
詳細介紹
四川成都LED溫度沖擊試驗機設備
混合型濕度循環(huán)試驗冷熱沖擊試驗箱
理念的混合型試驗設備。
具有濕度循環(huán)試驗的功能。
型號 | TSH-100-W | TSH-200-W | ||
方 式 | 2溫區(qū)或3溫區(qū)風門切換方式 | |||
性能 | 測試區(qū)域 | 高溫曝露溫度范圍 | 冷熱循環(huán)試驗+70℃～ +150℃ 結露循環(huán)試驗-10℃～ +100℃ | |
低溫曝露溫度范圍 | -70℃～ +10℃ | |||
溫度波動 | ± 1℃ | |||
濕度波動 | ± 5%RH | |||
高溫恒溫器 | 預熱溫度上限 | +150℃ | ||
濕度范圍 | 40～95%RH(結露循環(huán)試驗時) | |||
溫度上升時間 | -10℃→+100℃ 30分以內 | |||
溫度下降時間 | +20℃→-10℃ 60分以內 | |||
低溫恒溫器 | 預冷溫度下限 | -75℃ | ||
溫度上升時間 | -75℃→+10℃ 30分以內 | |||
溫度下降時間 | 常溫到-75℃ 60分以內 | |||
溫度恢復性能 | 冷熱循環(huán)試驗 | 恢復條件 | 2溫區(qū)高溫曝露：+75℃ /60分 低溫曝露：-35℃ /30分電源電壓：AC200V傳感器位置：試料上風口試料：鋁合金170kg | |
恢復時間 | 高溫恢復：10分以內(常溫→+150℃) 低溫恢復：10分以內(常溫→ -65℃) | 高溫恢復：16分以內(常溫→+150℃) 低溫恢復：16分以內(常溫→ -65℃) | ||
結露循環(huán)試驗1 | 恢復條件 | 2溫區(qū)高溫曝露：+75℃ /60分 低溫曝露：-35℃ /30分電源電壓：AC200V傳感器位置：試料上風口試料：鋁合金170kg | ||
恢復時間 | 高溫恢復：20秒以內(5℃→+25℃90%RH) 低溫恢復：3分以內(+25℃90%RH→ +5℃) | 高溫恢復：20秒以內(+5℃→+25℃90%RH) 低溫恢復：5分以內(+25℃90%RH→ +5℃) | ||
結露循環(huán)試驗2 | 恢復條件 | 2溫區(qū)高溫曝露：+75℃ /60分 低溫曝露：-35℃ /30分電源電壓：AC200V傳感器位置：試料上風口試料：鋁合金170kg | ||
恢復時間 | 高溫恢復：5分以內(-30℃→+25℃ 95%RH) 低溫恢復：5分以內(+25℃ 95%RH→ -30℃) | 高溫恢復：10分以內(常溫→+150℃) 低溫恢復：10分以內(常溫→ -65℃) | ||
試料框承重 | 5?(試樣均勻分布) | |||
測試區(qū)尺寸 | W650 × H460 ×D370mm | W650 × H460 ×D670mm | ||
本體外尺寸 | W1670 × H1900 ×D1570mm | W1670 × H1900 ×D1870mm | ||
重 量 | 約1300kg | 約1550kg | ||
※ 1環(huán)境溫度+23℃時測得的數據 | ||||
四川成都LED溫度沖擊試驗機設備
設備特點
規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇，充分滿足不同用戶的各種要求；
設備還可提供標準高低溫試驗功能，實現了溫度沖擊和高低溫試驗的共同兼容；
高強度、高可靠性的結構設計- 確保了設備的高可靠性；
工作室材料為SUS304不銹鋼 - 抗腐蝕、冷熱疲勞功能強，使用壽命長；
高密度聚氨酯發(fā)泡絕熱材料- 確保將熱量散失減到zui小；
表面噴塑處理- 保證設備的持久防腐功能和外觀壽命；
高強度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設備大門的高密封性；
多種可選功能（測試孔、記錄儀、測試電纜等）保證了用戶多種功能和測試的需要；
大面積電熱防霜觀察窗、內藏式照明 –可以提供良好的觀察效果；
環(huán)保型制冷劑 –確保設備更加符合您的環(huán)境保護要求。
可根據用戶要求定制尺寸/定制使用指標/定制各種選配功能
溫度控制
可實現溫度定值控制和程序控制；
全程數據記錄儀（可選功能）可以實現試驗過程的全程記錄和追溯；
每臺電機均配置過流（過熱）保護/加熱器設置短路保護，確保了設備運行期間的風量及加熱的高可靠性；
USB接口、以太網通訊功能，使得設備的通訊和軟件擴展功能滿足客戶的多種需要；
采用流行的制冷控制模式，可以0%~99%自動調節(jié)壓縮機制冷功率，較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%；
制冷及電控關鍵配件均采用產品，使設備的整體質量得到了提升和保證；
四川
設備滿足以下標準
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗B：高溫
GB/T 5170.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 總則
GJB 150.3A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分：高溫試驗
GJB 150.4A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗
GJB 150.5A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第5部分：溫度沖擊試驗
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 方法107 溫度沖擊試驗
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