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tokina圖麗鹵素燈光導光源KTX-100ES?符合RoHS指令?AC100~220V???全球支持?控制端子：兼容D-sub連接器?內置快門功能

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tokina圖麗LED光導光源KTL-400 光學測量儀達到傳統KTL-350照度的2.5至3倍。（與我們公司相比）●壽命是Metahara的15倍。●功耗是M...

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YP-250I電子元器件用表面檢查燈大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).

YP-250I半導體芯片檢測用表面檢查燈大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).

YP-250I液晶面板檢測用目視檢查燈大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).

YP-250I液晶屏幕檢測用目視檢查燈大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).

YP-250I半導體行業用目視檢查燈大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).

YP-250I晶圓表面瑕疵檢查燈大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).

YP-250I高照度鹵素強光燈大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).

YP-150I表面檢查燈用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測出來

YP-150I目視檢查燈用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測出來

YP-150I鹵素強光燈用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測出來

日本yamada晶圓瑕疵目視檢查燈YP-150I用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測出來

日本yamada電子元件目視檢查燈YP-150I用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測出來

日本sena玻璃晶圓目視檢查燈185LE 高照度照明設備（表面檢查燈）185LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。適合于TFT面板、CF（彩色...

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