18922517093
在半導體制造過程中，設備的水平精度直接影響光刻、刻蝕、鍍膜等關鍵工藝的均勻性和良率。SELN-001B 二軸數字水平儀憑借其 ±0.001° 的高精度測量能力，成為半導體設備安裝、調試和維護的重要工具。本文詳細探討該儀器的工作原理、核心性能及其在半導體行業的具體應用，并分析其如何提升生產效率與產品良率。
半導體制造對設備穩定性要求高，尤其是光刻機、刻蝕機、鍍膜設備等，其工作臺或反應腔室的微小傾斜（甚至 0.001° 級偏差）都可能導致晶圓加工不均，影響芯片性能。傳統氣泡水平儀或單軸電子水平儀已無法滿足現代半導體制造的高精度需求，而 SELN-001B 二軸數字水平儀 憑借其高分辨率、雙軸同步測量和數字化顯示等優勢，成為行業優選方案。
SELN-001B 采用 MEMS（微機電系統）傾角傳感器，結合高精度模數轉換（ADC）和數字濾波算法，實現雙軸（X/Y）同步測量。其核心特點包括：
雙軸正交測量：同時檢測水平面的兩個方向傾斜，避免單軸測量導致的調整誤差。
實時數字反饋：通過 LCD 或外接顯示器直接顯示角度值，支持 μm/m 或角度單位（°、°′″） 切換。
抗干擾設計：采用電磁屏蔽和振動補償算法，確保在半導體車間復雜環境下的測量穩定性。
| 參數 | 指標 |
|---|---|
| 測量范圍 | ±5°（可定制±10°） |
| 分辨率 | 0.0001°（約 0.002 mm/m） |
| 精度 | ±0.001°（約 ±0.02 mm/m） |
| 重復性 | ≤±0.0005° |
| 工作溫度 | 0~50℃ |
| 輸出接口 | RS-232 / USB / Ethernet |
| 適用環境 | 防塵、抗電磁干擾（EMI） |
晶圓臺調平：光刻機工作臺的傾斜會導致焦平面偏移，影響曝光精度。SELN-001B 可快速檢測并調整至 ≤0.001°，確保 EUV/DUV 光刻的成像質量。
光學系統校準：用于調整反射鏡、透鏡組的角度，優化光路準直，減少像差。
反應腔室調平：確保等離子體均勻分布，避免刻蝕速率不均（如邊緣與中心差異）。
晶圓承載臺校準：雙軸同步測量可優化承載臺水平度，減少刻蝕偏差，提升良率。
真空腔室安裝：高精度調平可縮短設備安裝時間，并提高鍍膜均勻性。
蒸發源角度校準：確保材料沉積厚度一致，滿足納米級薄膜工藝要求。
CMP（化學機械拋光）：拋光平臺的水平度直接影響晶圓表面平坦度。
晶圓鍵合機：在 3D NAND 等堆疊工藝中，確保鍵合界面對準精度。
| 對比項 | SELN-001B | 傳統氣泡水平儀 |
|---|---|---|
| 精度 | ±0.001° | ±0.02°~0.05° |
| 測量方式 | 雙軸數字顯示，實時反饋 | 肉眼觀察，易受主觀影響 |
| 調整效率 | 快速（≤1小時） | 耗時（4~6小時） |
| 數據記錄 | 支持存儲/導出 | 無記錄功能 |
| 狹小空間適用性 | 可搭配延長桿/磁吸底座 | 受限于體積 |
SELN-001B 二軸數字水平儀憑借其超高精度、雙軸同步測量和智能化功能，已成為半導體設備校準的關鍵工具。隨著半導體制造向 3nm 及以下先進制程 發展，對設備穩定性的要求將進一步提高，類似的高精度測量儀器將發揮更大作用。未來，結合 AI 自動調平 和 物聯網（IoT）遠程監控 技術，此類儀器有望進一步減少人工干預，提升半導體制造的自動化水平。
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
以上信息由企業自行提供，信息內容的真實性、準確性和合法性由相關企業負責，環保在線對此不承擔任何保證責任。
溫馨提示：為規避購買風險，建議您在購買產品前務必確認供應商資質及產品質量。
