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詳細摘要： InnovateT5型全譜直讀光譜儀采用國際標準的設計和制造工藝技術，應用了日本濱松公司CMOS信號采集元件，每塊CMOS都可以單獨設值火花個數，與國際光譜儀技...

詳細摘要： NobleT7型全譜直讀光譜儀可快速的對固體金屬樣品進行分析。無論從痕量元素，還是到高濃度的元素，它都能準確、可靠的分析，特別是深紫外區的非金屬元素檢測精度較高...

詳細摘要： Exquis T4直讀光譜儀，采用了特殊的光室結構設計，光室密封氬氣循環系統，CMOS全譜接收技術，全元素分析范圍等特點。融合了多項自主創新技術,精工于內、大道...

詳細摘要： 高質量、高性能、高穩定的結合 多項技術的應用，可編程脈沖全數字激發光源、高性能光電倍增管(PMT )、全元素自動描跡、真空自動控制，確保其在全部金屬材料分析領域...

詳細摘要： W5型全譜直讀光譜儀擁有可快速的對金屬材料樣品進行元素測定。光學系統采用CMOS檢測器，光譜范圍覆蓋全部典型材料。無論從低含量元素還是到高含量的元素，它都能準確...

詳細摘要： M型全譜直讀光譜儀采用標準的設計和制造工藝技術，全數字化及互聯網技術結合，運用高分辯率CMOS檢測器，精密設計的氬氣吹掃系統，使儀器具有較高的性能、較低的成本、...

詳細摘要： 專用于有色金屬設計的光譜儀 針對有色金屬設計的用于測試鋁基、銅基、鎂基、鋅基、鈷基、錫基、鉛基等覆蓋了全元素分析范圍，根據用戶要求設定測量的元素通道。 光譜儀優...

詳細摘要： 應用范圍 CX-9500光譜儀可測定包括痕量碳（C），磷（P）,硫（S）元素,適用于多種金屬基體，如：鐵基，鋁基，銅基，鎳基，鉻基，鈦 基，鎂基，鋅基，錫基和鉛...

詳細摘要： 產品概述 1、第二代CCD/CMOS全譜光譜儀制造技術通道不受限制； 2、升級多基體方便，無須變動增加硬件； 3、優良的數據穩定性，同一樣品不同的時間段分析，可...

詳細摘要： 產品優勢 1、CCD/CMOS全譜光譜儀制造技術（數字化技術替代老式體積龐大笨重的光電倍增電子管模擬技術），通道不受限制 ； 2、國際光譜儀技術同步，國內能生產...

詳細摘要： CX-9800直讀光譜儀 優勢： 1、第二代CCD/CMOS全譜光譜儀制造技術（數字化技術替代老式體積龐大笨重的光電倍增電子管模擬技術）、通道不受限制 ； 2、...

詳細摘要： 金屬材料領域*的全譜直讀光譜儀 檢測基體：鐵基、銅基、鋁基、鎳基、鎂基、鈦基、鋅基、鉛基、錫基、銀基。 全新立式全譜光譜采用標準的設計和制造工藝技術，采用全數字...

詳細摘要： TY-9000型全譜直讀光譜儀采用標準的設計和制造工藝技術，采用全數字化技術，替代龐大的光電倍增管（PMT）模擬技術，采用真空光室設計及全數字激發光源、CMOS...