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離子分子反應質譜儀V&F Analyse-und Messtechnik GmbH的旗艦 技術是離子分子反應質譜IMR-MS。這是一種軟電離方法,通過使用這種方法,使待分析物樣品的碎片化大大減少或消除。帶正電荷的原子離子與包含待分析分子的中性氣流中的分子發生低能量碰撞。碰撞所產生的分子離子后續通過四極質量過濾器進行分離,通常的質量范圍為7至519amu。
離子分子反應質譜儀的特點是
V&F Analyse-und Messtechnik GmbH的旗艦 技術是離子分子反應質譜IMR-MS。這是一種軟電離方法,通過使用這種方法,使待分析物樣品的碎片化大大減少或消除。帶正電荷的原子離子與包含待分析分子的中性氣流中的分子發生低能量碰撞。碰撞所產生的分子離子后續通過四極質量過濾器進行分離,通常的質量范圍為7至519amu。
V&F也采用不同的質譜技術,而每一項技術都可以適應和完成所面對的特定的任務。扇形磁場質譜儀(SF)用于檢測氫和氦,電子轟擊質譜儀(EIMS)結合四級桿質量過濾器,用于經典的多組分分析。對于某些應用,V&F提供結合了IMR-MS和EIMS兩種技術組合的設備。這些儀器特別適合在分析需要相對較高的電離能量的無機分子的同時,也同時測量一系列揮發性有機物。
V&F配備多種靈活的采樣裝置,在保證恒定的采樣流量的同時,可以適應的樣氣壓力范圍從幾個毫巴到高于大氣壓。V&F儀器采用經過認證的混合氣體進行標定,工作靈敏度范圍大,覆蓋從ppb到百分比的濃度范圍
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