北京布拉德科技發(fā)展有限公司
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詳細(xì)摘要： J200飛秒激光剝蝕進(jìn)樣系統(tǒng)無需高度匹配的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)，也能進(jìn)行高精度、定量LA-ICP-MS測量，用戶可*依靠J200系統(tǒng)輸送高質(zhì)量的樣品顆粒到ICP-MS系統(tǒng)，...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：北京市更新時(shí)間：2022-10-21 在線留言
詳細(xì)摘要： J200飛秒激光剝蝕進(jìn)樣系統(tǒng)（LA）應(yīng)用于生物醫(yī)學(xué)、半導(dǎo)體、環(huán)境和國防領(lǐng)域，ASI公司具有80多年LIBS技術(shù)的研究經(jīng)驗(yàn)及其團(tuán)隊(duì)在激光剝蝕領(lǐng)域具有很高的聲望，對(duì)...
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