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鍍層測厚儀

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產品型號CMI900

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更新時間：2018-05-16 15:15:27瀏覽次數：541次

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深圳市鼎極天電子有限公司

經營模式：經銷商

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產品簡介

精度高、穩定性好強大的數據統計、處理功能測量范圍寬 NIST認證的標準片服務及支持

詳細介紹

精度高、穩定性好
強大的數據統計、處理功能
測量范圍寬
NIST認證的標準片
服務及支持

技術參數

主要規格	規格描述
X射線激發系統	垂直上照式X射線光學系統
	空冷式微聚焦型X射線管，Be窗
	標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等
	功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標準 75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選
	裝備有安全防射線光閘
	二次X射線濾光片：3個位置程控交換，多種材質、多種厚度的二次濾光片任選
準直器程控交換系統	zui多可同時裝配6種規格的準直器
	多種規格尺寸準直器任選：－圓形，如4、6、8、12、20 mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
測量斑點尺寸	在12.7mm聚焦距離時，zui小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準直器)
	在12.7mm聚焦距離時，zui大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準直器)
樣品室	CMI900		CMI950
－樣品室結構	開槽式樣品室		開閉式樣品室
－zui大樣品臺尺寸	610mm x 610mm		300mm x 300mm
－XY軸程控移動范圍	標準：152.4 x 177.8mm 還有5種規格任選		300mm x 300mm
－Z軸程控移動高度	43.18mm		XYZ程控時，152.4mm XY軸手動時，269.2mm
－XYZ三軸控制方式	多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制
－樣品觀察系統		高分辨彩色CCD觀察系統，標準放大倍數為30倍。50倍和100倍觀察系統任選。
		激光自動對焦功能
		可變焦距控制功能和固定焦距控制功能
計算機系統配置		IBM計算機惠普或愛普生彩色噴墨打印機
分析應用軟件		操作系統：Windows2000中文平臺分析軟件包：SmartLink FP軟件包
－測厚范圍		可測定厚度范圍：取決于您的具體應用。
－基本分析功能		采用基本參數法校正。牛津儀器將根據您的應用提供必要的校正用標準樣品。
		樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)
		可檢測元素范圍：Ti22 – U92
		可同時測定5層/15種元素/共存元素校正
		貴金屬檢測，如Au karat評價
		材料和合金元素分析，
		材料鑒別和分類檢測
		液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量
		多達4個樣品的光譜同時顯示和比較
		元素光譜定性分析
－調整和校正功能		系統自動調整和校正功能，自動消除系統漂移
－測量自動化功能		鼠標激活測量模式：“Point and Shoot"
		多點自動測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復測量模式
		測量位置預覽功能
		激光對焦和自動對焦功能
－樣品臺程控功能		設定測量點
		連續多點測量
		測量位置預覽(圖表顯示)

－統計計算功能	平均值、標準偏差、相對標準偏差、zui大值、zui小值、數據變動范圍、數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖
	數據分組、X-bar/R圖表、直方圖
	數據庫存儲功能
	任選軟件：統計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書
－系統安全監測功能	Z軸保護傳感器
	樣品室門開閉傳感器
	操作系統多級密碼操作系統：操作員、分析員、工程師