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一、定義:
電阻性電流IR與電容性電流Ic的比值稱為介質損耗角的正切值,用tanδ表示。
電介質的損耗:絕緣介質在交流電壓的作用下,介質中流過電流,電介質中的部分電能將轉變成熱能,這部分能量稱為電介質損耗。做介質損失測試是對設備絕緣狀況的有效判斷。
介質損耗測試的辦法:測試介質的損失角,即介質上所做功產生的熱量對介質絕緣的影響。
介質中形成的電流分兩部分:一部分是電容的無功電流,另一部分是引起損耗的有功電流。
有功電流又分為三部分電流,分別產生三種損耗:
電導損耗:由通過介質的電導電流引起的損耗;
極化損耗:極化過程中介質的電荷在交變電場下反復排列,作周期運動時克服摩擦所形成的吸收電流引起的損耗;
游離損耗:氣體中的電暈,液體、固體中的局部放電生成的電流引起的損耗。
測量CVT接線
測量CVT中間變壓器接線
測量串極式PT二次繞組接線
測量串極式PT支架接線
兩種接線的適用范圍:
正接線適用于被試品整體可以與地隔離;反接線適用于被試品不能與地隔離時。
二、測量tanδ時影響測試結果的因素和消除方法:
1、溫度和濕度的影響。
2、電場干擾影響及消除方法:
測試時排除電場干擾的方法主要有屏蔽、選相、倒相法、移相法和采用反干擾平衡干擾等方法。
3、避免外界磁場干擾。
4、試品表面泄露的影響及消除方法:
利用屏蔽環將表面泄露電流直接回流到試驗電源,避免表面泄漏電流進入儀器測量系統引起誤差。但是試驗中一般不加屏蔽環,加了會改變等值電路,除非天氣潮濕需加屏蔽環。
三、試驗結果的判斷及注意事項:
1、被試品容量較大時,tanδ測試不能有效反映試品中可能存在的局部缺陷。
2、注意溫度影響。
3、試驗電壓變化對tanδ測試結果的影響。
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