1. 納米粒度儀中數字相關器的技術優勢 濟南微納公司的納米粒度分析儀，是基于動態光散射原理（DLS），其關鍵技術是提取懸浮在溶液中的納米顆粒的散射光的自相關函數，并計算納米顆粒的擴散系數，從而分析顆粒粒度。 數字相關器就是基于動態光散射原理的粒度測試技術中提取散射光信號的自相關函數的裝置。 目前，國內應用較多此類裝置主要是進口美國Brookhaven公司BI-9000AT、BI-9010AT和Turbocorr數字相關器，這些裝置都是基于定制的大規模集成電路（ASIC）,或基于DSP技術，或多片芯片及聯組成，不但很有很大的局限性，而且價格昂貴。另外，國內有人嘗試采用軟件的方式實現數字相關器，即先用光子計數器將散射光光子計數并存儲在存儲器中，然后根據計算機軟件將其數據從存儲器中讀出進而進行相關運算，雖然這樣能計算出散射光強的相關函數，但由于軟件所需的處理時間比硬件所需的處理時間長很多，導致在如此長的處理時間內的光子測量被暫停（即處理時間內的光子丟失），造成計算的相關函數偏差較大。所以，采用軟件的數字相關器實時性很差，不能滿足顆粒粒度分析的要求。 至此，我們采用硬件的方式實現數字相關器，即用一片FPGA芯片實現256物理通道的用于動態光散射原理的納米粒度儀的數字相關器，既能滿足納米粒度測試的需求，且具有小體積、低成本、易擴展等特點。 2. 動態光散射納米粒度儀的理論基礎 基于動態光散射原理的納米粒度儀的基本測試原理如圖所示。由激光器發出的激光經入射光路照射到樣品池中的顆粒上，顆粒的散射光經接收光路進入光電探測器，隨后由數字相關器求出其光強的自相關函數G2(τ)。 基于動態光散射原理的納米粒度儀基本測試原理圖 基于動態光散射原理的納米粒度儀基本測試原理圖 由采樣時間發生模塊、光子計數模塊、自相關運算模塊和計算機接口模塊這四個主要模塊以及配上相應的同步復位模塊和控制模塊實現的數字相關器，其物理通道為256路，等效通道可達5000多通道，自相關曲線延遲時間可由納米級跨越到秒級。 因此，該研究中采用FPGA技術以硬件的形式實現的數字相關器*動態光散射納米粒度儀中獲取自相關函數的需求。該數字相關器已成功應用于我公司Winner801、Winner802光子相關納米粒度分析儀中。 早在2008年，微納公司就是生產出國內*臺納米粒度分析儀，該數字相關器技術于2010年已申請并獲得國家實用新型，*的*技術使得納米粒度儀逐漸贏得國內市場，并深受廣大客戶的歡迎。 濟南微納納米粒度儀相關技術資料請登錄濟南微納查看；
