LayTec于11月前推出的產品Pyro 400。傳統的紅外高溫測量法只能監測到藍寶石或SiC晶片下面的基座表面溫度,與之不同的是,Pyro 400是一種真正能測量GaN層表面溫度的解決方案。該工具在GaN發光（波長400nm）處實現高溫測量。
圖1. Pyro 400被安裝在Aixtron的行星式MOCVD系統中。 該公司Kolja Haberland博士展示了生長過程中GaN LED結構（包括多量子阱）的相關細節。圖2展示了一個典型的線掃描測量結果,利用Pyro 400對基座的進行監測的晶片溫度曲線,所得數據直接反應了行星式反應腔內每塊晶片的GaN溫度分布狀況。通過結合EpiCurve®測量出的反射比與曲率值,原位測量為優化均勻度和LED性能提供了所有的重要信息。此外,數據還清晰地展示了晶片曲率導致的溫度分布變化,并證實了晶片凹面的中心更熱。
圖2. 采用Pyro 400線掃描法測量8×3配置的反應腔。一個是凹型翹曲幅度較大的（#2, 3, 5, 7）晶片模板,另一個是凹型翹曲幅度較小的（#4, 5, 8）GaN模板,兩者的溫度曲線不同。藍色背景標明了晶片之間的差距。 Haberland博士還指出,GaN層的表面溫度對載氣、旋轉速度以反應及腔的內壓的變化非常敏感。而細微的變化這些不是傳統的紅外高溫測量法所能感測到的。此外,Pyro 400在GaN緩沖層生長過程中不存在發射振蕩,因此能進行溫度反饋控制。 總之,在基于GaN的LED或激光器生長過程中,Pyro 400為之提供了一種新的、高度的溫度測量方法,使之受益匪淺。
