分析元素：金Au 銀Ag 鉑Pt 銥Ir 鋨Os 鈀Pd 銠Rh 釕Ru 銅Cu 鋅Zn 鎳Ni 鎘Cd 銦In ...

技術參數
分析范圍： 0.01%～99.99%
測量時間： 自適應
元素分析： 從Al～U的所有元素
測量精度： ±0.001%～0.1%
X射線源：Mo靶的X射線光管
風冷（）
攝像頭：高清晰攝像定位系統，工作可靠，效率高
探測器：Si-PIN探測器；半導體制冷
高壓器：4～80Kv
分析：多通道模擬
軟件：XRF6.0菜單式軟件，帶硬件參數調整和數據評估及計算
鍍層測量：鍍層厚度范圍<30um
溫度：15～30℃
電壓：100～127V或220～240V,50/60Hz
功率：144W
重量：57公斤
尺寸：500*500*450mm
操作系統： Windows2000/Me/XP

產品特點：雙屏顯示設計，造型時尚專業。集成工業計算機，無需外接電腦；帶門鎖電鎖，自動開蓋裝置，使日常管理更便捷；超高的分辨率可以輕松解決貴金屬行業無損檢測的任何復雜要求，為貴金屬行業光譜儀。