當前位置：鉑悅儀器（上海）有限公司廣州辦事處>>硅片表面形貌/晶圓測量>>硅片表面形貌測量

硅片表面形貌測量

返回列表頁

參考價

面議

具體成交價以合同協(xié)議為準

產品型號VIT系列

品牌

廠商性質代理商

所在地上海市

在線詢價收藏產品查看聯(lián)系電話

聯(lián)系方式：市場部查看聯(lián)系方式

更新時間：2025-05-12 13:58:00瀏覽次數(shù)：31次

聯(lián)系我時，請告知來自環(huán)保在線

產品分類 品牌分類

  硅片表面形貌/晶圓測量

全部產品列表

暫無信息

鉑悅儀器（上海）有限公司廣州辦事處

經營模式：代理商

商鋪產品：148條

所在地區(qū)：上海上海

聯(lián)系人：市場部（市場）

詢價 給他留言

產品簡介

產品描述：硅片表面形貌測量,材料表面形貌分析

詳細介紹

硅片表面形貌測量VIT系列

NEW: Virtual Interface Technology for 3D-IC Metrology:
-TSV profile (depth, bottom CD, tilt, SWA)
-Residue Detection
-RST
-Copper Nail Height
-Bump Height and Cu pillar height
-Edge trim profile

3DIC TSV and BWS TTV硅片表面形貌測量
Film Stress薄膜應力量測儀
FEOL Electrical Characterization 電學特性
Thin wafer metrology 晶圓測量學
Film Adhesion漆膜附著力測試NEW: Virtual Interface Technology for 3D-IC Metrology:
-TSV profile (depth, bottom CD, tilt, SWA)
-Residue Detection
-RST
-Copper Nail Height
-Bump Height and Cu pillar height

-Edge trim profile