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X射線熒光鍍層厚度測量儀

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產品型號X-Strata920-PC, X-Strata920-SDD

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更新時間：2025-02-11 10:16:24瀏覽次數：82次

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產品簡介

基于X熒光的涂層厚度和材料分析是業內廣泛接受認可的分析方法，提供易于使用、快速和無損的分析，幾乎不需要樣本制備，能夠分析元素周期表上從13Al到92U的固體或液體樣品

詳細介紹

基于X熒光的涂層厚度和材料分析是業內廣泛接受認可的分析方法，提供易于使用、快速和無損的分析，幾乎不需要樣本制備，能夠分析元素周期表上從¹³Al 到⁹²U 的固體或液體樣品。 X-Strata 920提供多種配置，可分析單層和多層鍍層（包括合金層）。四種樣品臺配置，分別是標準臺、井深式、加寬式、程控式，可依照需求分析任何形狀的部件樣品。

開槽式樣品倉設計，可以測量大型平板樣品，如尺寸大于儀器寬度的印制線路板或小型的連接器，接插件樣品。所有樣品可以很方便地放置并定位到待測點
樣品尺寸：270 x 500 x 150mm
最小的準直器：0.01mm x 0.25mm(0.5 x10 mil)
可根據需求選擇檢測器-正比計數器(Ti鈦~-U鈾)或高分辨率 (Al鋁 -U鈾)SDD
可以分析金屬膜厚及成分, 從原子序號22~至92的典型元素的電鍍層、化學鍍層
多層多元素校正符合IPC 4556, IPC 4552A
Z 軸自動控制, Z 軸自動對焦系統
鈷二次濾光片，用于準確校正銅鎳之間的相互干擾，合適鎳層的精確測量
數量準直器：6個
金屬薄膜厚度0.03微米(30nm)到 30 um微米，根據不同鍍層元素和鍍層結構不同而不同
Hitachi SmartLink FP 基本參數法

項目	描述
測量方向 (X射線照射方向)	從上往下，即使樣品表面有一定的幅度或不平整等情況也可輕易對焦
外形尺寸	寬 x 深 x 高 [mm]：約 407 x 770 x 400 mm
樣品臺設計	開槽式樣品倉，可以測量大型平板樣品，如尺寸大於儀器寬度的印製線路板或小型的連接器，接外掛程式樣品。所有樣品可以很方便地放置並定位到待測點。 Z 軸自動控制（Z 向行程：43mm）樣品倉內部尺寸：236 x 430 x 160mm (寬 x 深 x 高)
X射線源	W 靶射線管
高壓發生器	50 kV, 1.0 mA (50 W) 高壓發生器，高壓多檔可調
二次濾光片	鈷二次濾光片，用於準確校正銅鎳之間的相互干擾，合適鎳層的精確測量。
X射線接收器檢(探測器)	正比計數器(Ti鈦~-U鈾)或高解析度 (Al鋁 -U鈾) SDD
元素範圍	鈦-鈾，或鋁-鈾（SDD）
視頻系統	彩色 CCD，30 倍光學放大， 200%、300%和 400%數位放大。樣品分析區域在使用者介面顯示，清晰、易用。
Z 軸自動對焦系統	鐳射用於 Z 軸自動精確定位X 射線光管/檢測器與被測樣品到測試距離。「一鍵操作」將Z 軸測試頭移動到位置，同時將樣品圖像定焦（顯示在螢幕上）。自動而簡單的操作提高儀器測試的再現性，並將人為測量誤差降到。注：測試距離為 12.7mm，由 X 射線測試頭自動調節高度（Z 軸）。
可測量的鍍層元素範圍	元素週期表中 22 號鈦元素到 92 號鈾元素
可測量的鍍層層數	最多可同時測量 4 層（不含基材）
可測鍍層厚度範圍	通常約 0.03 微米到 30 微米，根據不同鍍層元素和鍍層結構不同而不同。