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X熒光鍍層測厚分析儀

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更新時間：2017-08-31 11:26:57瀏覽次數：895次

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產品簡介

X熒光鍍層測厚分析儀能夠滿足多鍍層、復雜樣品和微小測試面積的檢測需求。

詳細介紹

X熒光鍍層測厚分析儀結合了大功率X射線管和高分辨率探測器，能夠滿足多鍍層、復雜樣品和微小測試面積的檢測需求。這款儀器的電制冷固態探測器確保的信/躁比，從而降低檢測下限。探測器分辨率*，能更容易地識別、量化和區分相鄰的元素。有害元素檢測結果可精確到ppm級，確保產品滿足環保要求，幫助企業降低高昂的產品召回成本和法令執行成本。您可以針對您的應用選擇zui合適的分析模型：經驗系數法、基本參數法或兩者結合。這款儀器能對電子產品上的關鍵組裝區域進行快速篩選性檢測。一旦識別出問題區域，即可對特定小點進行定量分析。大型樣品艙能夠靈活地檢測大件或形狀不規則的樣品，大艙門使樣品更易放入。

X熒光鍍層測厚分析儀組成