一、功能
衛(wèi)浴潔具掛具鍍層測厚儀采用X射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層、覆蓋層厚度，測量方法滿足GB/T 16921-2005標(biāo)準(zhǔn)（等同：ISO3497：2000、ASTM B568和DIN50987）。
2，衛(wèi)浴潔具掛具鍍層測厚儀層元素范圍：鈦～鈾，包含常見的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、鉻、鈀等。
3,鍍層層數(shù)：多至4層。
4,可測厚度范圍：通常0.01微米到30微米，視樣品組成和鍍層結(jié)構(gòu)而定。
二、特點(diǎn)和數(shù)據(jù)
1,采用基本參數(shù)法校準(zhǔn)，可在無薄膜標(biāo)樣情況下生成校準(zhǔn)曲線以完成測量。
2,X射線采用從上至下的照射方式，即使是表面高低不一的樣品也可以正確測量。反之，如果是從下*的照射方式，遇到表面凹凸的樣品，無法調(diào)整Z軸距離，導(dǎo)致測量光程的變化，引起測量的誤差。
3,采用開放的校準(zhǔn)模式，用戶可自行建立校準(zhǔn)曲線不受儀器廠家限制。
4,提供符合美國國家標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)協(xié)會要求，A2LA美國實(shí)驗(yàn)室協(xié)會認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)樣品，可驗(yàn)證測量結(jié)果并讓實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)具有可追溯性。
5,操作系統(tǒng)，數(shù)據(jù)可存儲，轉(zhuǎn)移，并可一鍵生成包含測量數(shù)據(jù)、統(tǒng)計值、樣品圖片和趨勢圖等要素的報告（word格式）
具體產(chǎn)品信息請參見廣州普倫公司：www.plonlab。。ｃｏｍ
號：plon4009908350，
全國光譜儀：4009908350/