 | EDAX微束X射線熒光能譜儀Orbis |
Orbis可以對各種類型、尺寸的樣品進行的無損元素分析，不需樣品制備，不需涂層。它可以對多元素進行快速同步的X射線檢測，含量靈敏度從百萬分之幾到99%。用戶可以對小樣品進行元素分析，如顆粒，碎片和夾雜物，也可以對大樣品進行自動多點和成像分析。
Orbi是一款臺式儀器，可以在空氣或低真空條件下，測量從Na到BK的元素。因為X射線具有穿透力和較大的光斑，Orbis比掃描電子顯微鏡更適合分析較大特點的樣品。Orbis Vision 軟件強大易用，可提供精確的元素分析。
Orbis安裝了垂直于樣品的的X射線光學器件和高質量的視頻像機，適合更大范圍的樣品形狀。這種創新的設計提供了真正的“你所看到的就是你所分析的”的能力。由于X射線束的阻擋而導致的錯誤測量，可以很容易地被檢測到。如果相機的視野受到阻擋，X射線也會受到阻擋。當測量有地形的樣品時，可以消除X射線束的陰影。此外，在儀器設計的工作距離外，定性分析更容易。
Orbis適合各種應用，包括刑事取證、工業質量控制和無損檢測，還有材料、電子和地質樣品分析。
