高分辨率三維計算機斷層掃描& 緊湊型數字化X 光透視系統
主要特點:
• 高分辨率三維計算機斷層掃描
• 實時高分辨率數字化X光透視
• 納米級分辨率配置可選
• 5-250 um分辨率
• 大樣品尺寸(320 mm x 720 mm)
• 可編程自動控制重復掃描
• 樣品位置記憶
• 廣泛的應用領域及產品分析
• 鉛及鋼鐵結構,X射線內鎖定系統
應用領域
• 計量 • 纖維-復合材料 • 塑料 • 多孔樣品 • 其他
高分辨率三維計算機斷層掃描& 緊湊型數字化X 光透視系統
主要特點:
• 高分辨率三維計算機斷層掃描
• 實時高分辨率數字化X光透視
• 納米級分辨率配置可選
• 5-250 um分辨率
• 大樣品尺寸(320 mm x 720 mm)
• 可編程自動控制重復掃描
• 樣品位置記憶
• 廣泛的應用領域及產品分析
• 鉛及鋼鐵結構,X射線內鎖定系統
應用領域
• 計量 • 纖維-復合材料 • 塑料 • 多孔樣品 • 其他
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