半導體高低溫試驗箱規格參數：
型號 | DR-H201-80 | DR-H201-150 | DR-H201-225 | DR-H201-408 | DR-H201-800 |
內箱尺寸W×H×D(cm) | 40×50×40 | 50×60×50 | 50×75×60 | 60×85×80 | 100×100×80 |
外箱尺寸W×H×D(cm)約 | 110×136×71 | 117×146×85 | 117×166×91 | 140×176×101 | 170×186×111 |
內箱容積(L) | 80 | 150 | 225 | 408 | 800 |
溫度范圍 | A:-20℃～150℃ B: -40℃～150℃ C: -60℃～150℃ D: -70℃～150℃ | ||||
濕度范圍 | 20%～98%RH(10%～98%RH/5%～98%RH) | ||||
溫濕度分布精度 | 2.0℃,3.0%RH | ||||
溫濕度控制精度 | ±0.3℃；±2.5%RH | ||||
升溫/降溫時間 | 約3.0℃/分鐘；約1.0℃/分鐘 | ||||
保溫材質 | 耐高溫高密度氯基甲酸乙醋泡沫絕緣體材料 | ||||
冷卻系統 | 氣冷式/單段壓縮機(-40℃) 氣冷式/雙段壓縮機(-40℃～-70℃) | ||||
保護裝置 | 無熔絲開關、(壓縮機過載/冷媒高低壓/超濕超溫)保護開關、保險絲故障警告系統 | ||||
配件 | 記錄器(選購)、觀視窗、50mm測試孔、PL箱內燈、隔板、干濕球紗布 | ||||
電源 | 1φ 220V AC±10% 50/60Hz / 3φ 380V AC±10% 50/60Hz | ||||
半導體高低溫試驗箱：嚴格遵循國際標準
符合國際標準的測試能力
高低溫環境試驗箱和高低溫測試試驗箱均嚴格遵循一系列國際和國內標準，確保測試結果的準確性和可靠性。這些標準包括但不限于：
GJB150.3 高溫試驗
GJB150.4 低溫試驗
GJB150.9 濕熱試驗
GB/T2423.22 溫度變化試驗
GB/T2423.3-93 濕熱試驗箱試驗方法
GB/T2423.4-93 交變濕熱試驗方法
GB11158 高溫試驗箱技術條件
GB10589-89 低溫試驗箱技術條件
GB/T10586-89 濕熱試驗箱技術條件
GB/T2423.1-2001 低溫試驗箱試驗方法
GB/T2423.2-2001 高溫試驗箱試驗方法
確保產品可靠性：通過模擬惡劣的溫度條件，高低溫試驗箱可以評估電子產品在高溫或低溫環境中的穩定性和可靠性，確保產品在實際使用中能夠正常工作。
質量控制：高低溫試驗箱是質量控制的重要組成部分，通過測試可以發現產品在設計、材料選擇或制造過程中可能存在的潛在問題，從而及時進行改進，提高產品質量。
環境適應性設計驗證：在產品的研發階段，高低溫試驗箱用于驗證產品的環境適應性設計，確保產品能夠在預期的環境條件下正常運行。
符合行業標準：許多行業標準，如IEC 60068、MIL-STD-810G等，要求電子產品在上市前必須通過特定的高低溫測試，以證明其符合標準要求。
壽命預測和缺陷識別：通過高低溫循環測試，可以預測產品的預期壽命，識別產品中的潛在問題和缺陷，從而進行質量改進。
提升產品競爭力：在市場競爭激烈的環境下，通過高低溫測試的產品能夠提高其市場競爭力，因為這些產品已經被證明能夠在各種環境下保持性能和可靠性。
降低售后服務成本：通過高低溫測試，可以減少產品因環境適應性問題導致的故障率，從而降低售后服務的成本。
支持研發和創新：高低溫試驗箱為電子產品的研發提供了重要的測試支持，幫助研發人員了解產品在不同溫度條件下的性能表現，從而推動產品的創新和改進
高溫試驗：模擬產品在高溫環境下的適應性，測試產品在高溫條件下的性能和穩定性。參考標準包括GB/T 2423.2、IEC 60068-2-2等。
低溫試驗：模擬產品在低溫環境下的適應性，測試產品在低溫條件下的性能和穩定性。參考標準包括GB/T 2423.1、IEC 60068-2-1等。
溫度沖擊試驗：也稱為溫度循環試驗或快速溫變試驗，模擬產品在溫度急劇變化環境下的適應性。測試產品在高溫和低溫之間快速轉換的耐受能力。參考標準包括IEC60068-2-14、GB2423.22等。
濕熱試驗：模擬產品在高溫高濕環境下的適應性，測試產品在濕熱條件下的性能和穩定性。包括恒定濕熱試驗和交變濕熱試驗兩種模式。
高低溫交變試驗：在高低溫之間進行循環測試，模擬產品在溫度變化環境下的適應性。這種模式可以一次性將需要做的高溫、低溫以及所需做的溫度的時間設定在儀表參數內，試驗箱會按照設定走程序。
能效測試：評估高低溫試驗箱自身的能源效率，按照GB/T 33861-2017標準進行測試.
