日本SSD進(jìn)口H0110-S4B測(cè)量?jī)x器MEASURES
日本SSD進(jìn)口H0110-S4B測(cè)量?jī)x器MEASURES
靜電衰減測(cè)量?jī)x適用于檢查材料的靜電擴(kuò)散率,通過用電暈放電產(chǎn)生的空氣離子照射樣品使樣品帶電,然后在停止照射空氣離子后檢查電荷的衰減曲線。 。全新升級(jí)為H0110-S4B。
該設(shè)備符合JIS L1094-1980半衰期測(cè)量?jī)x的要求,即測(cè)試紡織品和針織物靜電性能的方法。(如果需要用20mm的探頭高度進(jìn)行校準(zhǔn),請(qǐng)?jiān)谫徺I時(shí)注明。)
作為使樣品帶電的方法,使用通過電暈放電產(chǎn)生的空氣離子的照射,通過選擇電暈放電的極性和施加電壓,可以使樣品帶正電或負(fù)電。
可以測(cè)量所有片狀樣品,例如薄膜、板材、線、布料、地毯和玻璃。但重量、厚度、尺寸有限制,請(qǐng)聯(lián)系我們。
Honest 可以進(jìn)行演示測(cè)量。請(qǐng)與我們聯(lián)系以獲取更多信息。
誠實(shí)數(shù)據(jù)分析系統(tǒng)已升級(jí)至V3。H0110-S4B 還支持 Honest。
為了將V3連接到H0110-S4A,需要對(duì)主機(jī)進(jìn)行修改。對(duì)于其他舊型號(hào),可能無法修改連接,請(qǐng)聯(lián)系我們。
從H0110-S4開始,校準(zhǔn)時(shí)的標(biāo)準(zhǔn)探頭高度為15毫米,符合JIS。如需20mm校準(zhǔn),請(qǐng)?jiān)谟嗁彆r(shí)注明。
購買時(shí)注明AC100V 50Hz/60Hz。